WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2013053560) METHOD OF CALIBRATION TIME INTERVAL OPTIMIZATION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/053560    International Application No.:    PCT/EP2012/067799
Publication Date: 18.04.2013 International Filing Date: 12.09.2012
IPC:
G01F 25/00 (2006.01), G01D 18/00 (2006.01)
Applicants: ENDRESS+HAUSER MEßTECHNIK GMBH+CO. KG [DE/DE]; Colmarer Straße 6 79576 Weil am Rhein (DE) (For All Designated States Except US).
VAISSIÈRE, Dimitri [FR/FR]; (FR) (For US Only)
Inventors: VAISSIÈRE, Dimitri; (FR)
Agent: ANDRES, Angelika; Colmarer Str. 6 79576 Weil am Rhein (DE)
Priority Data:
11185040.0 13.10.2011 EP
Title (EN) METHOD OF CALIBRATION TIME INTERVAL OPTIMIZATION
(FR) PROCÉDÉ D'OPTIMISATION D'INTERVALLES DE TEMPS D'ÉTALONNAGE
Abstract: front page image
(EN)A method of optimizing calibration time intervals between consecutive calibrations of a measurement device for measuring a quantity to be measured operated on a measurement site of an industrial site is described, which allows to increase safety and reduce costs, by defining discrete measurement error levels (Ei) for measurement errors (E) of the device determined during its calibration and discrete criticality levels (Cj) for criticalities (C) of the device determined based on a probability (P) of a of a defect of the device and a severity (S) of consequences of the defect, assigning a risk category (Rk) classifying a risk (R) involved in operating the device on the measurement site to each pair of one of the measurement error levels (Ei) and one of the criticality levels (Cj), determining the risk category (RC(D)) of the device based on its measurement error level (EL(D)) and its criticality level (CL(D)), and in case the risk category (RC(D)) of the device is lower or equal to a maximal allowable risk category (Rmax) performing a re-calibration of the device after a calibration time interval (T) given by a product of a given reference interval (TR) and a predetermined risk factor (rk) assigned to the risk category (RC(D)) of the device, wherein the risk factors (rk) are positive numbers larger than zero and smaller than a predetermined maximal value (rmax) larger than one, and wherein risk factors (rk) assigned to lower risk categories (Rk) are larger than risk factors (rk) assigned to higher risk categories (Rk).
(FR)La présente invention porte sur un procédé d'optimisation d'intervalles de temps d'étalonnage entre des étalonnages consécutifs d'un dispositif de mesure pour mesurer une quantité à mesurer, mis en œuvre sur un site de mesure d'un site industriel, lequel procédé permet d'augmenter la sécurité et de réduire les coûts par la définition de niveaux d'erreur de mesure discrets (Ei) pour des erreurs de mesure (E) du dispositif déterminées durant son étalonnage et de niveaux de criticité discrets (Cj) pour des criticités (C) du dispositif déterminées sur la base d'une probabilité (P) d'un défaut du dispositif et d'une gravité (S) de conséquences du défaut, l'affectation d'une catégorie de risque (Rk) classifiant un risque (R) impliqué dans le fonctionnement du dispositif sur le site de mesure à chaque paire de l'un des niveaux d'erreur de mesure (Ei) et de l'un des niveaux de criticité (Cj), la détermination de la catégorie de risque (RC(D)) du dispositif sur la base de son niveau d'erreur de mesure (EL(D)) et de son niveau de criticité (CL(D)), et dans le cas où la catégorie de risque (RC(D)) du dispositif est inférieure ou égale à une catégorie de risque autorisée maximale (Rmax), la réalisation d'un réétalonnage du dispositif après un intervalle de temps d'étalonnage (T) donné par un produit d'un intervalle de référence donné (TR) et d'un facteur de risque prédéterminé (rk) affecté à la catégorie de risque (RC(D)) du dispositif, les facteurs de risque (rk) étant des nombres positifs plus grands que zéro et plus petits qu'une valeur maximale prédéterminée (rmax) plus grande que un, et des facteurs de risque (rk) affectés à des catégories de risque inférieures (Rk) étant plus grands que des facteurs de risque (rk) affectés à des catégories de risque supérieures (Rk).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)