WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2013052642) MICROCONTROLLER WITH OPTIMIZED ADC CONTROLLER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/052642    International Application No.:    PCT/US2012/058716
Publication Date: 11.04.2013 International Filing Date: 04.10.2012
IPC:
H03K 17/96 (2006.01)
Applicants: MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED [US/US]; 2355 West Chandler Blvd. Chandler, AZ 85224-6199 (US)
Inventors: LUNDSTRUM, Zeke; (US).
CURTIS, Keith; (US).
DAVISON, Burke; (US).
STEEDMAN, Sean; (US).
LEFAOU, Yann; (US)
Agent: SLAYDEN, Bruce, W., II; King & Spalding LLP 401 Congress Ave., Suite 3200 Austin, TX 78701 (US)
Priority Data:
13/633,616 02.10.2012 US
61/544,386 07.10.2011 US
Title (EN) MICROCONTROLLER WITH OPTIMIZED ADC CONTROLLER
(FR) MICROCONTRÔLEUR ÉQUIPÉ D'UN CONTRÔLEUR ANALOGIQUE-NUMÉRIQUE OPTIMISÉ
Abstract: front page image
(EN)An analog-to-digital (ADC) controller is used in combination with a digital processor of a microcontroller to control the operation of capacitance measurements using the capacitive voltage division (CVD) method. The ADC controller handles the CVD measurement process instead of the digital processor having to run additional program steps for controlling charging and discharging of a capacitive touch sensor and sample and hold capacitor, then coupling these two capacitors together, and measuring the resulting voltage charge thereon in determining the capacitance thereof. The ADC controller may be programmable and its programmable parameters stored in registers.
(FR)Selon le mode de réalisation décrit dans l'invention, un contrôleur analogique-numérique est utilisé conjointement avec un processeur numérique d'un microcontrôleur pour commander l'exécution de mesures de capacités au moyen d'un procédé de division de tension capacitive. Le contrôleur analogique-numérique prend en charge le processus de mesure par division de tension capacitive plutôt que le processeur numérique n'exécute des étapes du programme supplémentaires afin de contrôler, charger et décharger un capteur tactile capacitif et un condensateur échantillonneur-bloqueur, puis de coupler ces deux condensateurs ensemble, puis de mesurer la charge de tension obtenue par détermination de la capacité correspondante. Le contrôleur analogique-numérique peut être programmable et ses paramètres programmables peuvent être stockés dans des registres.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)