WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2013048786) FULL FIELD SHARPNESS TEST
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/048786    International Application No.:    PCT/US2012/055501
Publication Date: 04.04.2013 International Filing Date: 14.09.2012
IPC:
H04N 17/00 (2006.01), H04N 1/00 (2006.01), G01M 11/02 (2006.01)
Applicants: APPLE INC. [US/US]; 1 Infinite Loop Cupertino, CA 95014 (US) (For All Designated States Except US).
GAMADIA, Mark, N. [US/US]; (US) (For US Only).
WU, Fei [CN/US]; (US) (For US Only).
SHEN, Shizhe [CN/US]; (US) (For US Only).
RUKES, Jason [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: GAMADIA, Mark, N.; (US).
WU, Fei; (US).
SHEN, Shizhe; (US).
RUKES, Jason; (US)
Agent: VINCENT, Lester, J.; Blakely, Sokoloff, Taylor & Zafman LLP 1279 Oakmead Parkway Sunnyvale, CA 94085-4040 (US)
Priority Data:
13/250,646 30.09.2011 US
Title (EN) FULL FIELD SHARPNESS TEST
(FR) TEST DE NETTETÉ PLEIN CHAMP
Abstract: front page image
(EN)A test chart can be used to test sharpness performance of an imaging system's full image field by having a sharpness inspection area formed of a plurality of identical visual elements that abut each other leaving no gaps to thereby form a mosaic. Each visual element may be a plurality of groups of differently oriented contrasting lines. The mosaic may fill an entire image captured by an imager of the imaging system. Thus, a test system can image the chart to objectively assess the performance of the imaging system in terms of a certain level of image quality (e.g. sharpness, tilt, etc) throughout the entire spatial area of the captured image. The size of the chart and spatial frequency (e.g., spacing) of the visual element lines can be selected to test an imaging system's full field sharpness at selected spatial frequencies. The full field sharpness results can be used to more quickly and accurately determine different aspects of image quality from a given imaging system and its components.
(FR)L'invention concerne une mire pouvant être utilisée pour le test des performances d'image plein champ d'un système d'imagerie, grâce à une zone de test de netteté formée de plusieurs éléments visuels identiques qui se touchent, sans écart entre eux, pour former une mosaïque. Chaque élément visuel peut être composé de plusieurs groupes de lignes contrastées orientées différemment. La mosaïque peut remplir une image pleine capturée par l'imageur du système d'imagerie. Par conséquent, un système de test peut créer une mire pour évaluer objectivement les performances du système d'imagerie en termes de qualité d'image (par exemple netteté, précision) dans la totalité de la zone spatiale de l'image capturée. La taille de la mire et la fréquence spatiale (par exemple l'espacement) des lignes des éléments visuels peuvent être sélectionnées afin de tester la netteté plein champ d'un système d'imagerie à des fréquences spatiales sélectionnées. Les résultats de netteté plein champ peuvent être utilisés pour déterminer plus rapidement et avec une précision accrue différents aspects de la qualité d'image à partir d'un système d'imagerie spécifique et de ses composants.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)