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1. (WO2013048580) S-WAVE ANISOTROPY ESTIMATE BY AUTOMATED IMAGE REGISTRATION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/048580    International Application No.:    PCT/US2012/037583
Publication Date: 04.04.2013 International Filing Date: 11.05.2012
Chapter 2 Demand Filed:    18.10.2012    
IPC:
G01V 1/00 (2006.01)
Applicants: EXXONMOBIL UPSTREAM RESEARCH COMPANY [US/US]; CORP-URC-SW359 P.O. Box 2189 Houston, TX 77252-2189 (US) (For All Designated States Except US).
BANSAL, Reeshidev [IN/US]; (US) (For US Only).
FOMEL, Sergey [US/US]; (US) (For US Only).
MATHENEY, Michael, P. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: BANSAL, Reeshidev; (US).
FOMEL, Sergey; (US).
MATHENEY, Michael, P.; (US)
Agent: COURTNEY, Edward, A. III; Exxonmobil Upstream Research Company CORP-URC-SW359 P.O. Box 2189 Houston, TX 77252-2189 (US)
Priority Data:
61/539,302 26.09.2011 US
Title (EN) S-WAVE ANISOTROPY ESTIMATE BY AUTOMATED IMAGE REGISTRATION
(FR) ESTIMATION ANISOTROPIQUE D'ONDES S PAR ENREGISTREMENT AUTOMATIQUE D'IMAGES
Abstract: front page image
(EN)The present disclosure provides a system and method for estimating fracture density within a subsurface formation from S-wave seismic data. In one embodiment, the S-wave seismic data is separated into fast ("S1") and slow ("S2") data. A computer is used to compute local similarity of the S1 and S2 data and to compute a cumulative time-difference by which the S2 data lags the S1 data from the local similarity. Based on the computed cumulative time-difference, the fracture density of a subsurface formation is estimated.
(FR)La présente invention décrit un système et une méthode d'estimation de la densité de fracture au sein d'une formation de sous-surface à partir de données séismologiques d'ondes S. Ces données sont classées en données rapides (« S1 ») et en données lentes (« S2 »). Un ordinateur calcule les similitudes locales entre ces données S1 et S2 et détermine un différentiel de temps cumulé aux termes duquel les données S2 sont décalées par rapport aux données S1 provenant de la similitude locale. Sur la base de ce différentiel cumulé ainsi calculé, il est possible d'estimer la densité de fracture d'une formation de sous-surface.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)