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1. (WO2013047521) EDDY CURRENT FLAW DETECTOR AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/047521    International Application No.:    PCT/JP2012/074563
Publication Date: 04.04.2013 International Filing Date: 25.09.2012
IPC:
G01N 27/90 (2006.01)
Applicants: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA [JP/JP]; 1-1, Shibaura 1-Chome, Minato-Ku, Tokyo 1058001 (JP) (For All Designated States Except US).
KOBAYASHI, Noriyasu; (US only).
UENO, Souichi; (US only).
NOMURA, Kota; (US only).
OCHIAI, Makoto; (US only).
KITAJIMA, Yuko; (US only).
MARUYAMA, Shigeki; (US only).
ICHIKAWA, Hiroya; (US only)
Inventors: KOBAYASHI, Noriyasu; .
UENO, Souichi; .
NOMURA, Kota; .
OCHIAI, Makoto; .
KITAJIMA, Yuko; .
MARUYAMA, Shigeki; .
ICHIKAWA, Hiroya;
Agent: TOKYO INTERNATIONAL PATENT FIRM; 2nd Floor, Miyata Building, 17-16, Nishi-Shimbashi 1-Chome, Minato-Ku, Tokyo 1050003 (JP)
Priority Data:
2011-209572 26.09.2011 JP
Title (EN) EDDY CURRENT FLAW DETECTOR AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD
(FR) DÉTECTEUR D'ANOMALIES PAR ANALYSE DE COURANTS DE FOUCAULT ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ANOMALIES PAR ANALYSE DE COURANTS DE FOUCAULT
(JA) 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法
Abstract: front page image
(EN)Provided is an eddy current flaw detection technique improving an S/N ratio in the output waveform from a coil unit that detects flaws (defects) of an object to be inspected. An eddy current flaw detector comprises: a power supply unit (13) for generating an AC magnetic field in a first coil unit (20a) to induce an eddy current in an object (11) to be inspected; a second coil unit (20b) for detecting the magnetic field induced by the eddy current; a detection unit (14) for detecting the output waveform from the second coil unit (20b); a first capacitor (12a) forming a first resonant circuit (21) together with the first coil unit (20a); a second capacitor (12b) forming a second resonant circuit (22) together with the second coil unit (20b); and an adjustment unit for adjusting at least one of the power supply frequency (f) of the power supply unit (13), the capacitance (C) of the first capacitor (12a), and the capacitance (C) of the second capacitor (12b) so that the first resonant circuit (21) and the second resonant circuit (22) become a resonant state at an identical frequency.
(FR)La présente invention concerne une technique de détection d'anomalies par analyse de courants de Foucault améliorant un rapport S/N de la forme d'onde en sortie d'une unité de bobine qui détecte les anomalies (défauts) d'un objet à inspecter. Un détecteur d'anomalies par analyse de courants de Foucault comprend : une unité d'alimentation électrique (13) destinée à générer un champ magnétique de CA dans une première unité de bobine (20a) pour induire un courant de Foucault dans un objet (11) à inspecter ; une seconde unité de bobine (20b) destinée à détecter le champ magnétique induit par le courant de Foucault ; une unité de détection (14) destinée à détecter la forme d'onde en sortie de la seconde unité de bobine (20b) ; un premier condensateur (12a) formant un premier circuit résonant (21) conjointement avec la première unité de bobine (20a) ; un second condensateur (12b) formant un second circuit résonant (22) conjointement avec la seconde unité de bobine (20b) ; et une unité d'ajustement destinée à ajuster au moins une valeur parmi la fréquence d'alimentation électrique (f) de l'unité d'alimentation électrique (13), la capacité (C) du premier condensateur (12a), et la capacité (C) du second condensateur (12b) de sorte que le premier circuit résonant (21) et le second circuit résonant (22) se retrouvent dans un état résonant à une fréquence identique.
(JA) 検査対象のき裂(欠陥)を検出したコイル部の出力波形におけるS/N比を向上させる渦電流探傷技術を提供する。 第1コイル部20aに交流磁場を発生させて検査対象11に渦電流を誘起する電源部13と、前記渦電流の誘導磁場を検出する第2コイル部20bと、この第2コイル部20bの出力波形を検出する検出部14と、第1コイル部20aと共に第1共振回路21を形成する第1キャパシタ12aと、第2コイル部20bと共に第2共振回路22を形成する第2キャパシタ12bと、第1共振回路21と第2共振回路22とが同一周波数で共振状態となるように電源部13の電源周波数f、第1キャパシタ12aの静電容量C及び第2キャパシタ12bの静電容量Cのうち少なくとも一つを調整する調整部と、を備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)