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1. (WO2013046861) SPECTROPHOTOMETER AND SIGNAL INTEGRATION METHOD FOR SPECTROPHOTOMETER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/046861    International Application No.:    PCT/JP2012/067711
Publication Date: 04.04.2013 International Filing Date: 11.07.2012
IPC:
G01J 3/42 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01)
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP) (For All Designated States Except US).
SASANO Naoki [JP/JP]; (JP) (For US Only).
KURIMOTO Daisuke [JP/JP]; (JP) (For US Only).
NAKAMURA Satoshi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
SATO Yoichi [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: SASANO Naoki; (JP).
KURIMOTO Daisuke; (JP).
NAKAMURA Satoshi; (JP).
SATO Yoichi; (JP)
Agent: KASUGA Yuzuru; Torii-nihonbashi Bldg., 4-1, Nihonbashi-honcho 3-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030023 (JP)
Priority Data:
2011-211349 27.09.2011 JP
Title (EN) SPECTROPHOTOMETER AND SIGNAL INTEGRATION METHOD FOR SPECTROPHOTOMETER
(FR) SPECTROPHOTOMÈTRE ET PROCÉDÉ D'INTÉGRATION DE SIGNAL POUR SPECTROPHOTOMÈTRE
(JA) 分光光度計および分光光度計における信号積算方法
Abstract: front page image
(EN)Provided is a spectrophotometer wherein a xenon flash tube is used as a light source, a difference light-pulse duration can be set for each wavelength in a measurement wavelength range, and the size of an integration window can be set such that the obtained signal does not become saturated in an analog-to-digital conversion circuit. The wavelength of light from the xenon flash tube (1) is selected, and the analog-to-digital conversion circuit (13) is set to an integration-window size appropriate to the selected wavelength. For wavelengths with high emission intensity, an integration-window size such that the analog-to-digital conversion circuit (13) does not become saturated is set. Provided are a spectrophotometer and spectrometry method wherein a xenon flash tube is used as a light source (1), a different light-pulse duration can be set for each wavelength in a measurement wavelength range, the size of an integration window can be set such that the obtained signal does not become saturated in an analog-to-digital conversion circuit (13), the signal-to-noise ratio is good, and saturation of the analog-to-digital conversion circuit (13) can be avoided.
(FR)La présente invention porte sur un spectrophotomètre, dans lequel un tube flash au xénon est utilisé en tant que source lumineuse, une durée d'impulsion de lumière différente peut être réglée pour chaque longueur d'onde dans une plage de longueur d'onde de mesure et la dimension d'une fenêtre d'intégration peut être réglée de telle sorte que le signal obtenu ne devient pas saturé dans un circuit de conversion analogique-numérique. La longueur d'onde de la lumière du tube flash au xénon (1) est choisie et le circuit de conversion analogique-numérique (13) est réglé à une dimension de fenêtre d'intégration appropriée à la longueur d'onde choisie. Pour des longueurs d'onde ayant une intensité d'émission élevée, une dimension de fenêtre d'intégration qui est telle que le circuit de conversion analogique-numérique (13) ne devient pas saturé est réglée. L'invention porte également sur un spectrophotomètre et un procédé de spectrométrie dans lesquels un tube flash au xénon est utilisé en tant que source lumineuse (1), une durée d'impulsion de lumière différente peut être réglée pour chaque longueur d'onde dans une plage de longueur d'onde de mesure, la dimension d'une fenêtre d'intégration peut être réglée de telle sorte que le signal obtenu ne devient pas saturé dans un circuit de conversion analogique-numérique (13), le rapport signal sur bruit est bon et une saturation du circuit de conversion analogique-numérique (13) peut être évitée.
(JA) キセノンフラッシュランプを光源とし、測定波長範囲の各波長で異なるパルス発光時間を設定可能とし、取得信号がAD変換回路において飽和しないように積算時間を設定可能な分光光度計が実現される。キセノンフラッシュランプ1からの光の波長を選択するとともに、その選択した波長に応じた積算時間をAD変換機回路13に設定する。発光強度が強い波長に対しては、AD変換回路13が飽和しない積算時間を設定する。キセノンフラッシュランプを光源1とし、測定波長範囲の各波長において異なるパルス発光時間を設定可能とし、取得信号がAD変換回路13において飽和しないように積算時間を設定可能とし、良好なS/N比であり、かつAD変換回路13の飽和を回避可能な分光光度計及び分光方法が実現される。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)