Search International and National Patent Collections
Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persists, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2012173767) SYSTEM AND METHOD FOR USING A SINGLE VECTOR SIGNAL GENERATOR TO VERIFY DEVICE UNDER TEST
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2012/173767 International Application No.: PCT/US2012/039568
Publication Date: 20.12.2012 International Filing Date: 25.05.2012
IPC:
H04B 17/00 (2006.01) ,H04B 7/04 (2006.01)
H ELECTRICITY
04
ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
B
TRANSMISSION
17
Monitoring; Testing
H ELECTRICITY
04
ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
B
TRANSMISSION
7
Radio transmission systems, i.e. using radiation field
02
Diversity systems
04
using a plurality of spaced independent aerials
Applicants:
LITEPOINT CORPORATION [US/US]; 575 Maude Court Sunnyvale, CA 94085, US (AllExceptUS)
YELLAPANTULA, Ramakrishna [US/US]; US (UsOnly)
LI, Yinghui [CN/US]; US (UsOnly)
WALVIS, Dirk J., M. [US/US]; US (UsOnly)
Inventors:
YELLAPANTULA, Ramakrishna; US
LI, Yinghui; US
WALVIS, Dirk J., M.; US
Agent:
DALLA VALLE, Mark A.; VEDDER PRICE PC 222 N. La Salle Street, Suite 2400 Chicago, Illinois 60601, US
Priority Data:
13/158,87013.06.2011US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD FOR USING A SINGLE VECTOR SIGNAL GENERATOR TO VERIFY DEVICE UNDER TEST
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ POUR UTILISER UN GÉNÉRATEUR DE SIGNAL VECTORIEL UNIQUE POUR VÉRIFIER UN DISPOSITIF SOUS TEST
Abstract:
(EN) A system and method is disclosed for testing a communication device. In accordance with the described invention, a single vector signal generator (VSG) is utilized to test manufactured 2x2, 3x2 and 4x2 MIMO wireless devices to identify possible manufacturing defects that may impair or disable the device under test (DUT) receivers from properly receiving constituted MIMO TX signals and accurately decoding the bits/symbols conveyed by transmitted TX signals. Disclosed embodiments may include a VSG coupled to a DUT. The VSG being configured to transmit data packets as a first codeword and a second codeword, wherein the VSG includes software and hardware architecture to manipulate the first codeword and the second codeword as emulated first and second waveforms, wherein the first waveform is different than the second waveform. The DUT being configured to receive the emulated first and second waveforms as prescribed signals from the VSG. The prescribed signals including a first received signal and a second received signal, wherein the DUT includes software and hardware architecture to manipulate the first received signal and the second received signal to generate block error rate results therefrom.
(FR) L'invention porte sur un système et un procédé pour tester un dispositif de communication. Selon l'invention décrite, un générateur de signal vectoriel (VSG) unique est utilisé pour tester des dispositifs sans fil MIMO 2x2, 3x2 et 4x2 fabriqués, afin d'identifier des défauts de fabrication possibles qui peuvent altérer des récepteurs de dispositif sous test (DUT) ou les empêcher de recevoir correctement des signaux d'émission MIMO constitués et de décoder précisément les bits/symboles acheminés par des signaux d'émission transmis. Des modes de réalisation décrits peuvent comprendre un VSG couplé à un DUT. Le VSG est configuré pour transmettre des paquets de données sous la forme d'un premier mot de code et d'un second mot de code, le VSG comprenant une architecture logicielle et matérielle permettant de manipuler le premier mot de code et le second mot de code sous la forme de première et seconde formes d'onde émulées, la première forme d'onde étant différente de la seconde forme d'onde. Le DUT est configuré pour recevoir les première et seconde formes d'onde émulées sous la forme de signaux prescrits en provenance du VSG. Les signaux prescrits comprennent un premier signal reçu et un second signal reçu, le DUT comprenant une architecture logicielle et matérielle permettant de manipuler le premier signal reçu et le second signal reçu afin de générer des résultats de taux d'erreur sur les blocs à partir de ceux-ci.
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)