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1. (WO2012128942) SYSTEM FOR DETECTING A FAILURE ASSOCIATED WITH AN INVERTER OR ASSOCIATED MACHINE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/128942    International Application No.:    PCT/US2012/027949
Publication Date: 27.09.2012 International Filing Date: 07.03.2012
IPC:
H04L 1/00 (2006.01)
Applicants: DEERE & COMPANY [US/US]; One John Deere Place Moline, IL 61265 (US) (For All Designated States Except US).
SINGH, Brij N. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: SINGH, Brij N.; (US)
Agent: BARTHOLOMEW, Darin E.; Deere & Company Global Intellectual Property Services One John Deere Place Moline, IL 61265 (US)
Priority Data:
61/454,690 21.03.2011 US
13/194,279 29.07.2011 US
Title (EN) SYSTEM FOR DETECTING A FAILURE ASSOCIATED WITH AN INVERTER OR ASSOCIATED MACHINE
(FR) SYSTÈME DE DÉTECTION DE RUPTURE ASSOCIÉ À UN ONDULEUR OU À UNE MACHINE
Abstract: front page image
(EN)An inverter (111) comprises a first pair of semiconductor devices (70, 78) with switched terminals that are coupled in series between a positive terminal (101) and a negative terminal (99) of a direct current bus. An analog interface adjusts (12) a voltage levels at measurement nodes (310) associated with control terminals of the semiconductor devices (70, 78). An analog-to-digital converter (14) has analog inputs for receiving the adjusted voltage levels of the measurement nodes (310) and outputting corresponding digital count data for each measurement node (310). A data processor (22) is adapted to detect the fault or absence of a fault in the inverter based on the conformity of the digital count to one or more reference ranges stored In a data storage device (24) for corresponding switch states of the semiconductor devices (70, 78).
(FR)L'invention porte sur un onduleur (111) qui comporte une première paire de dispositifs à semi-conducteur (70, 78) ayant des bornes commutées qui sont couplées en série entre une borne positive (101) et une borne négative (99) d'une barre omnibus pour courant continu. Une interface analogique (12) ajuste des niveaux de tension à des nœuds de mesure (310) associés à des bornes de commande des dispositifs à semi-conducteur (70, 78). Un convertisseur analogique-numérique (14) possède des entrées analogiques pour recevoir les niveaux de tension ajustés des nœuds de mesure (310) et pour fournir en sortie des données de comptage numérique correspondantes pour chaque nœud de mesure (310). Un processeur de données (22) est conçu pour détecter le défaut ou l'absence d'un défaut dans l'onduleur sur la base de la conformité du comptage numérique sur une ou plusieurs plages de référence, stockées dans un dispositif de stockage de données (24), pour des états de commutation correspondants des dispositifs à semi-conducteur (70, 78).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)