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Pub. No.:    WO/2012/127955    International Application No.:    PCT/JP2012/053927
Publication Date: 27.09.2012 International Filing Date: 20.02.2012
G06F 11/22 (2006.01), G06F 11/28 (2006.01)
Applicants: RENESAS ELECTRONICS CORPORATION [JP/JP]; 1753, Shimonumabe, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2118668 (JP) (For All Designated States Except US).
OTANI, Sugako [JP/JP]; (JP) (For US Only).
KONDO, Hiroyuki [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: OTANI, Sugako; (JP).
KONDO, Hiroyuki; (JP)
Agent: Fukami Patent Office, p.c.; Nakanoshima Central Tower, 2-7, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
Priority Data:
2011-066093 24.03.2011 JP
(JA) 半導体装置
Abstract: front page image
(EN)This semiconductor device is provided with first and second central processing units (0, 3), and a monitoring register group (60), which is provided inside or outside of a second central processing unit (3). Information that indicates the internal state of a first central processing unit (0) is transferred to the monitoring register group (60) from the first central processing unit (0) while a program is being executed, and the monitoring register group (60) stores the information thus transferred. The monitoring register group (60) is mapped in a memory space of the second central processing unit (3).
(FR)L'invention concerne un dispositif à semi-conducteur doté d'une première et d'une deuxième unités centrales de traitement (0, 3) et d'un groupe de registres de surveillance (60), qui est placé à l'intérieur ou à l'extérieur d'une deuxième unité centrale de traitement (3). Les informations qui indiquent l'état interne d'une première unité centrale de traitement (0) sont transférées au groupe de registres de surveillance (60) à partir de la première unité centrale de traitement (0) pendant qu'un programme est en cours d'exécution, et le groupe de registres de surveillance (60) conserve les informations ainsi transférées. Le groupe de registres de surveillance (60) est mappé dans un espace de mémoire de la deuxième unité centrale de traitement (3).
(JA) 半導体装置は、第1および第2の中央処理装置(0,3)と、第2の中央処理装置(3)の内部または外部に設けられた監視用レジスタ群(60)とを備える。監視用レジスタ群(60)には、プログラムの実行中に第1の中央処理装置(0)の内部状態を表わす情報が第1の中央処理装置(0)から転送され、監視用レジスタ群(60)はこれらの転送された情報を保持する。監視用レジスタ群(60)は、第2の中央処理装置(3)のメモリ空間にマッピングされている。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)