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Pub. No.:    WO/2012/127657    International Application No.:    PCT/JP2011/057007
Publication Date: 27.09.2012 International Filing Date: 23.03.2011
Chapter 2 Demand Filed:    05.12.2011    
G01N 21/88 (2006.01), G01B 11/02 (2006.01)
Applicants: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 1, Toyota-cho, Toyota-shi, Aichi 4718571 (JP) (For All Designated States Except US).
AONO Hiroshi [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: AONO Hiroshi; (JP)
Agent: YANO Juichiro; YANO INTERNATIONAL PATENT OFFICE, Twin 21 MID Tower 34th Floor, 1-61, Shiromi 2-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5406134 (JP)
Priority Data:
(JA) ワークの欠陥検出装置
Abstract: front page image
(EN)The present invention addresses the issue of providing a technology of improving detection accuracy of defects of work outer circumferential surfaces, including bent surfaces. A defect detecting apparatus (1) detects a defect (D) that is present on the outer circumferential surface of work (W) having the outer circumferential surface thereof formed as a bent surface. The defect detecting apparatus (1) is provided with: a jig (10), which supports the work (W), and holds the work in a state wherein the work is rotated by a predetermined angle; an image pickup apparatus (20), which picks up an image of the outer circumferential surface of the work (W) held by the jig (10), said work being in the state wherein the work is rotated by the predetermined angle; and a control apparatus (30), which processes an image obtained by means of the image pickup apparatus (20), and determines a defect. The control apparatus (30) stores information relating to the shape of the outer circumferential surface of the work (W), and information relating to the positional relationship, at each rotation angle, between the image pickup apparatus (20) and a work (W) area having the image thereof picked up by the image pickup apparatus (20), and the control apparatus uses the information at the time of determining the defect (D).
(FR)Cette invention a pour objet de pourvoir à une technique apte à améliorer la précision de détection des défauts sur les surfaces circonférentielles extérieures d'une pièce, comprenant des surfaces incurvées. Un appareil de détection de défauts (1) détecte un défaut (D) qui est présent sur la surface circonférentielle extérieure d'une pièce (W) dont la surface circonférentielle extérieure présente une surface incurvée. Pour ce faire, l'appareil de détection de défauts (1) selon l'invention comprend : un bâti (10), qui supporte la pièce (W), et la maintient dans une position où elle est soumise à rotation selon un angle prédéterminé ; un appareil de prise d'image (20), qui prend une image de la surface circonférentielle extérieure de la pièce (W) maintenue par le bâti (10), ladite pièce (W) étant dans une position où elle est soumise à rotation selon un angle prédéterminé ; et un appareil de commande (30), qui traite une image obtenue à l'aide de l'appareil de prise d'image (20), et détermine un défaut. L'appareil de commande (30) enregistre l'information relative à la forme de la surface circonférentielle extérieure de la pièce (W), et l'information relative à la relation positionnelle, à chaque angle de rotation, entre l'appareil de prise d'image (20) et une partie de la pièce (W) dont l'image a été prise par l'appareil de prise d'image (20), et l'appareil de commande utilise l'information au moment de déterminer le défaut (D).
(JA) 本発明は、曲面を含むワーク外周面の欠陥の検出精度を向上する技術を提供することを課題とする。欠陥検出装置(1)は、外周面が曲面として形成されるワーク(W)の外周面に存在する欠陥(D)を検出する。欠陥検出装置(1)は、ワーク(W)を支持するとともに、所定角度に回転した状態に保持する治具(10)と、治具(10)によって所定角度に回転した状態に保持されたワーク(W)の外周面を撮像する撮像装置(20)と、撮像装置(20)によって得られる画像を処理し、欠陥を判定する制御装置(30)と、を具備する。制御装置(30)は、ワーク(W)の外周面の形状に関する情報、及び、各回転角度における、撮像装置(20)によるワーク(W)の撮像部位と撮像装置(20)との位置関係に関する情報を記憶しており、欠陥(D)を判定する際に、これらの情報を利用する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)