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1. (WO2012125216) SYSTEMS AND METHODS FOR ANALYZING LIQUIDS UNDER VACUUM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/125216    International Application No.:    PCT/US2012/020136
Publication Date: 20.09.2012 International Filing Date: 04.01.2012
IPC:
G01N 35/00 (2006.01), G01N 23/22 (2006.01)
Applicants: BATTELLE MEMORIAL INSTITUTE [US/US]; Intellectual Property Institute P.O. Box 999, M/S K1-53 Richland, Washington 99352 (US) (For All Designated States Except US).
YU, Xiao-Ying [CN/US]; (US) (For US Only).
YANG, Li [CN/US]; (US) (For US Only).
COWIN, James P. [US/US]; (US) (For US Only).
IEDEMA, Martin J. [US/US]; (US) (For US Only).
ZHU, Zihua [CN/US]; (US) (For US Only)
Inventors: YU, Xiao-Ying; (US).
YANG, Li; (US).
COWIN, James P.; (US).
IEDEMA, Martin J.; (US).
ZHU, Zihua; (US)
Agent: TUAN, Allan C.; Battelle Memorial Institute P.O. Box 999, M/S K1-53 Richland, Washington 99352 (US)
Priority Data:
13/047,025 14.03.2011 US
Title (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR ANALYZING LIQUIDS UNDER VACUUM
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS PERMETTANT D'ANALYSER DES LIQUIDES SOUS VIDE
Abstract: front page image
(EN)Systems and methods for supporting a liquid against a vacuum pressure in a chamber can enable analysis of the liquid surface using vacuum-based chemical analysis instruments. No electrical or fluid connections are required to pass through the chamber walls. The systems can include a reservoir, a pump, and a liquid flow path. The reservoir contains a liquid-phase sample. The pump drives flow of the sample from the reservoir, through the liquid flow path, and back to the reservoir. The flow of the sample is not substantially driven by a differential between pressures inside and outside of the liquid flow path. An aperture in the liquid flow path exposes a stable portion of the liquid-phase sample to the vacuum pressure within the chamber. The radius, or size, of the aperture is less than or equal to a critical value required to support a meniscus of the liquid-phase sample by surface tension.
(FR)La présente invention a trait à des systèmes et à des procédés permettant de supporter un liquide subissant une dépression dans une chambre, lesquels systèmes et procédés permettent d'analyser la surface du liquide à l'aide d'instruments d'analyse chimique sous vide. Aucune connexion électrique ou fluidique n'est requise pour passer à travers les parois de la chambre. Les systèmes peuvent inclure un réservoir, une pompe et une trajectoire d'écoulement de liquide. Le réservoir contient un échantillon en phase liquide. La pompe entraîne l'écoulement de l'échantillon depuis le réservoir, à travers la trajectoire d'écoulement de liquide, et de retour dans le réservoir. L'écoulement de l'échantillon n'est pas sensiblement entraîné par un différentiel entre les pressions à l'intérieur et à l'extérieur de la trajectoire d'écoulement de liquide. Une ouverture dans la trajectoire d'écoulement de liquide expose une partie stable de l'échantillon en phase liquide à la dépression à l'intérieur de la chambre. Le rayon, ou la taille, de l'ouverture est inférieur ou égal à une valeur critique requise pour supporter un ménisque de l'échantillon en phase liquide par tension superficielle.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)