WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2012124788) METHOD FOR MEASURING DEPTH VALUES IN A SCENE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/124788    International Application No.:    PCT/JP2012/056781
Publication Date: 20.09.2012 International Filing Date: 09.03.2012
IPC:
G06T 7/00 (2006.01)
Applicants: MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP/JP]; 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310 (JP) (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
MITSUBISHI ELECTRIC RESEARCH LABORATORIES, INC. [US/US]; 201 Broadway, Cambridge, Massachusetts 02139 (US) (JP only).
VEERARAGHAVAN, Ashok [--/US]; (US) (For US Only).
GUPTA, Mohit [--/US]; (US) (For US Only).
AGRAWAL, Amit [--/US]; (US) (For US Only)
Inventors: VEERARAGHAVAN, Ashok; (US).
GUPTA, Mohit; (US).
AGRAWAL, Amit; (US)
Agent: SOGA, Michiharu; S. Soga & Co. 8th Floor, Kokusai Building, 1-1, Marunouchi 3-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1000005 (JP)
Priority Data:
13/048,019 15.03.2011 US
Title (EN) METHOD FOR MEASURING DEPTH VALUES IN A SCENE
(FR) PROCÉDÉ PERMETTANT DE MESURER DES VALEURS DE PROFONDEUR DANS UNE SCÈNE
Abstract: front page image
(EN)Depth values in a scene are measured by projecting sets of patterns on the scene, wherein each set of patterns is structured with different spatial frequency using different encoding functions. Sets of images of the scene is acquired, wherein there is one image for each pattern in each set. Depth values are determining for each pixel at corresponding locations in the sets of images. The depth values of each pixel are analyzed, and the depth value is returned if the depth values at the corresponding locations are similar. Otherwise, the depth value is marked as having an error.
(FR)Des valeurs de profondeur dans une scène sont mesurées en projetant des ensembles de formes sur la scène, chaque ensemble de formes étant structuré avec une fréquence spatiale différente à l'aide de différentes fonctions de codage. Des ensembles d'images de la scène sont acquis dans lesquels il y a une image pour chaque forme, dans chaque ensemble. Des valeurs de profondeur sont déterminées pour chaque pixel à des emplacements correspondants, dans les ensembles d'images. Les valeurs de profondeur de chaque pixel sont analysées, et la valeur de profondeur est retournée si les valeurs de profondeur aux emplacements correspondants sont similaires. Sinon, la valeur de profondeur est marquée comme erronée.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)