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1. (WO2012123262) DETECTING ORGANISMS AND DETERMINING RESISTANCE WITH THE AID OF MASS SPECTROMETRY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/123262    International Application No.:    PCT/EP2012/053522
Publication Date: 20.09.2012 International Filing Date: 01.03.2012
IPC:
C12Q 1/04 (2006.01)
Applicants: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
HILTAWSKY, Karsten [DE/DE]; (DE) (For US Only).
JAREMEK, Marta [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: HILTAWSKY, Karsten; (DE).
JAREMEK, Marta; (DE)
Common
Representative:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34 80506 München (DE)
Priority Data:
10 2011 005 600.9 16.03.2011 DE
Title (DE) DETEKTION VON ORGANISMEN UND BESTIMMUNG DER RESISTENZ MIT HILFE DER MASSENSPEKTROMETRIE
(EN) DETECTING ORGANISMS AND DETERMINING RESISTANCE WITH THE AID OF MASS SPECTROMETRY
(FR) DÉTECTION DE MICRO-ORGANISMES ET DÉTERMINATION DE LA RÉSISTANCE PAR SPECTROMÉTRIE DE MASSE
Abstract: front page image
(DE)Erfindungsgemäß erfolgt der Nachweis von Mikroorganismen, indem diese auf ein Substrat (z.B. auf ein Nährmedium) aufgebracht und bebrütet (inkubiert) werden und anschließend die (gasförmigen) Metabolite der Mikroorganismen mit einem Massenspektrometer gemessen werden.
(EN)According to the invention, microorganisms are detected by applying same to a substrate (for example to a culture medium) and incubating same and by subsequently measuring the (gaseous) metabolites of the microorganisms using a mass spectrometer.
(FR)L'invention concerne la détection des micro-organismes, laquelle s'effectue par dépôt de ces derniers sur un substrat (par exemple un milieu de culture) et par incubation, puis par mesure des métabolites (gazeux) des micro-organismes à l'aide d'un spectromètre de masse.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)