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1. (WO2012120696) OBJECT TRACKING DEVICE, OBJECT TRACKING METHOD, AND CONTROL PROGRAM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/120696    International Application No.:    PCT/JP2011/056475
Publication Date: 13.09.2012 International Filing Date: 17.03.2011
IPC:
G06T 7/20 (2006.01)
Applicants: OMRON CORPORATION [JP/JP]; 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530 (JP) (For All Designated States Except US).
YAMASHITA, Takayoshi; (For US Only)
Inventors: YAMASHITA, Takayoshi;
Agent: MASUI, Yoshihisa; HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK, Daiwa Minamimorimachi Building, 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300041 (JP)
Priority Data:
2011-053619 10.03.2011 JP
Title (EN) OBJECT TRACKING DEVICE, OBJECT TRACKING METHOD, AND CONTROL PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE SUIVI D'OBJET, PROCÉDÉ DE SUIVI D'OBJET ET PROGRAMME DE COMMANDE
(JA) 対象物追跡装置、対象物追跡方法、および制御プログラム
Abstract: front page image
(EN)The present invention implements an object tracking device with which it is possible to achieve both capability in following an object to be tracked and increased processing speed. This object tracking device comprises: a detailed contour model generation unit (30) which generates a detailed contour model of an object in a first frame; a search location setting unit (31) which sets a plurality of search locations in a second frame; a rough contour model generation unit (32) which generates a rough contour model from the detailed contour model in each of the plurality of search locations; a likelihood assessment unit (33) which assesses the likelihood of the rough contour model with respect to the detailed contour model; a search location narrowing unit (34) which narrows search locations from among the plurality of search locations on the basis of the likelihood which is assessed by the likelihood assessment unit (33); and an object location identification unit (36) which identifies the location of the object in the second frame from among the search locations which are narrowed by the search location narrowing unit.
(FR)L'invention concerne un dispositif de suivi d'objet qui permet d'obtenir à la fois la capacité de suivre un objet à suivre et une vitesse de traitement accrue. Ce dispositif de suivi d'objet comprend : une unité de génération de modèle de contour détaillé (30) qui génère un modèle de contour détaillé d'un objet dans une première trame ; une unité de détermination d'emplacement de recherche (31) qui détermine une pluralité d'emplacements de recherche dans une seconde trame ; une unité de génération modèle de contour approximatif (32) qui génère un modèle de contour approximatif à partir du modèle de contour détaillé dans chaque emplacement de la pluralité d'emplacements de recherche ; une unité d'évaluation de probabilité (33) qui évalue la probabilité du modèle de contour approximatif par rapport au modèle de contour détaillé ; une unité de restriction d'emplacement de recherche (34) qui restreint les emplacements de recherche à partir de la pluralité d'emplacements de recherche d'après la probabilité qui est évaluée par l'unité d'évaluation de probabilité (33) ; et une unité d'identification d'emplacement d'objet (36) qui identifie l'emplacement de l'objet dans la seconde trame à partir des emplacements de recherche qui sont restreints par l'unité de restriction d'emplacement de recherche.
(JA) 追跡対象の追随性と処理速度の高速化を両立できる対象物追跡装置を実現する。この物体追跡装置は、第1フレームにおいて対象物の詳細輪郭モデルを生成する詳細輪郭モデル生成部(30)と、第2フレームにおいて複数の探索位置を設定する探索位置設定部(31)と、上記複数の探索位置の各々において上記詳細輪郭モデルからラフ輪郭モデルを生成するラフ輪郭モデル生成部(32)と、上記ラフ輪郭モデルの上記詳細輪郭モデルに対する尤度を判定する尤度判定部(33)と、上記尤度判定部(33)により判定された尤度に基づいて、上記複数の探索位置の中から探索位置を絞り込む探索位置絞込部(34)と、上記探索位置絞込部により絞り込まれた探索位置の中から、上記第2フレームにおける上記対象物の位置を特定する対象物位置特定部(36)とを備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)