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1. (WO2012118938) MICROTOME UTILIZING A MOVABLE KNIFE IN A RETARDATION FIELD SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND A RETARDATION FIELD SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INCLUDING THE SAME
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2012/118938 International Application No.: PCT/US2012/027225
Publication Date: 07.09.2012 International Filing Date: 01.03.2012
IPC:
H01J 37/20 (2006.01) ,G01N 1/06 (2006.01)
Applicants: GALLOWAY, Simon, Andrew[GB/GB]; GB (UsOnly)
GATAN, INC.[US/US]; 780 Commonwealth Drive Warrendale, Pennsylvania 15086, US (AllExceptUS)
Inventors: GALLOWAY, Simon, Andrew; GB
Agent: TINARI, Nicholas M., Jr.; Caesar, Rivise, Bernstein, Cohen & Pokotilow, Ltd. Seven Penn Center 1635 Market Street 11th Floor Philadelphia, Pennsylvania 19103, US
Priority Data:
13/408,05429.02.2012US
61/448,33802.03.2011US
Title (EN) MICROTOME UTILIZING A MOVABLE KNIFE IN A RETARDATION FIELD SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND A RETARDATION FIELD SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INCLUDING THE SAME
(FR) MICROTOME UTILISANT UN COUTEAU MOBILE DANS UN MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE À BALAYAGE DE CHAMP DE RETARD ET MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE À BALAYAGE DE CHAMP DE RETARD LE COMPRENANT
Abstract: front page image
(EN) A microtome for in situ residence within a chamber of a scanning electron microscope (SEM) and a SEM including the microtome is disclosed. The microtome includes a specimen holder for holding a specimen thereon at high voltage to produce a retardation field thereat and a movable knife. The SEM includes a backscatter electron detector disposed adjacent to specimen holder. The knife arranged is to be carried into engagement with the specimen on the specimen holder to slice a portion of the specimen away to expose a new face of the specimen without interfering with the high voltage on the specimen, and is mounted so that after having engaged the specimen to expose a new face of the specimen it is withdrawn to a retracted position whereupon it does not interfere with the retardation field.
(FR) L'invention porte sur un microtome pour la résidence in situ à l'intérieur d'une chambre d'un microscope électronique à balayage (MEB) et sur un microscope électronique à balayage comprenant le microtome. Le microtome comprend un support de spécimen pour le maintien d'un spécimen sur celui-ci à une tension élevée afin de produire au niveau de celui-ci un champ de retard et un couteau mobile. Le MEB comprend un détecteur d'électrons à rétrodispersion disposé au voisinage du support de spécimen. Le couteau agencé doit être porté en engagement avec le spécimen sur le support de spécimen pour découper un morceau du spécimen afin d'exposer une nouvelle face de spécimen sans interférer avec la tension élevée sur le spécimen, et est monté de telle sorte qu'après avoir mis en prise le spécimen afin d'exposer une nouvelle face du spécimen il est retiré vers une position réfractée vers laquelle il n'interfère pas avec le champ de retard.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)