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1. (WO2012118790) SYSTEMS AND METHODS FOR TUNABLE WAVELET TRANSFORM ANALYSIS OF A SIGNAL
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2012/118790 International Application No.: PCT/US2012/026908
Publication Date: 07.09.2012 International Filing Date: 28.02.2012
IPC:
G06F 17/14 (2006.01) ,A61B 5/1455 (2006.01)
Applicants: OCHS, James[US/US]; US (UsOnly)
ADDISON, Paul[GB/GB]; GB (UsOnly)
WATSON, James[GB/GB]; GB (UsOnly)
NELLCOR PURITAN BENNETT IRELAND[IE/IE]; Michael Collins Road Mervue, Galway, IE (AllExceptUS)
Inventors: OCHS, James; US
ADDISON, Paul; GB
WATSON, James; GB
Agent: CHRISTOFFERSON, Sean; 6135 Gunbarrel Avenue Boulder, Colorado 80301, US
Priority Data:
13/036,36128.02.2011US
Title (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR TUNABLE WAVELET TRANSFORM ANALYSIS OF A SIGNAL
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR L'ANALYSE DE TRANSFORMÉE EN ONDELETTES RÉGLABLE D'UN SIGNAL
Abstract:
(EN) Methods and systems are disclosed for tuning first and second wavelet functions to resolve at least one component of a signal. A first characteristic frequency corresponding to a first scale band of interest is determined, and a first wavelet function is tuned to the first characteristic frequency in at least a region of a first scale band of interest. A second characteristic frequency corresponding to a second scale band of interest is determined, and a second wavelet function is tuned to the second characteristic frequency in at least a region of the second scale band of interest. A signal is transformed for the first and second wavelet functions using a continuous wavelet transform to create a transform signal, and a scalogram is generated based at least in part on the transformed signal.
(FR) La présente invention a trait à des procédés et à des systèmes permettant de régler des première et seconde fonctions d'ondelette de manière à résoudre au moins une composante d'un signal. Une première fréquence de résonance correspondant à une première bande d'échelle d'intérêt est déterminée et une première fonction d'ondelette est réglée sur la première fréquence de résonance dans au moins une région d'une première bande d'échelle d'intérêt. Une seconde fréquence de résonance correspondant à une seconde bande d'échelle d'intérêt est déterminée et une seconde fonction d'ondelette est réglée sur la seconde fréquence de résonance dans au moins une région de la seconde bande d'échelle d'intérêt. Un signal est transformé pour les première et seconde fonctions d'ondelette à l'aide d'une transformée en ondelettes continue de manière à créer un signal de transformée et un scalogramme est généré en fonction au moins en partie du signal transformé.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)