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1. (WO2012115819) SYSTEM FOR DETECTION OF NON-UNIFORMITIES IN WEB-BASED MATERIALS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/115819    International Application No.:    PCT/US2012/024987
Publication Date: 30.08.2012 International Filing Date: 14.02.2012
IPC:
G01N 21/89 (2006.01), B65H 43/00 (2006.01)
Applicants: 3M INNOVATIVE PROPERTIES COMPANY [US/US]; 3M Center Post Office Box 33427 Saint Paul, Minnesota 55133-3427 (US) (For All Designated States Except US).
TARNOWSKI, Catherine P., [US/US]; (US) (For US Only).
BRITTAIN, Kenneth G., [US/US]; (US) (For US Only).
HOFELDT, David L., [US/US]; (US) (For US Only).
JAWORSKI, Andrzej P., [US/US]; (US) (For US Only).
KOSTUCH, Gregory D., [US/US]; (US) (For US Only).
RAMTHUN, John A., [US/US]; (US) (For US Only).
RIBNICK, Evan J., [US/US]; (US) (For US Only).
VILKAMA, Esa H., [FI/US]; (US) (For US Only).
JUSTICE, Derek H., [US/US]; (US) (For US Only).
SAPIRO, Guillermo, [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: TARNOWSKI, Catherine P.,; (US).
BRITTAIN, Kenneth G.,; (US).
HOFELDT, David L.,; (US).
JAWORSKI, Andrzej P.,; (US).
KOSTUCH, Gregory D.,; (US).
RAMTHUN, John A.,; (US).
RIBNICK, Evan J.,; (US).
VILKAMA, Esa H.,; (US).
JUSTICE, Derek H.,; (US).
SAPIRO, Guillermo,; (US)
Agent: BAKER, James A.,; 3M Center Office of Intellectual Property Counsel Post Office Box 33427 Saint Paul, Minnesota 55133-3427 (US)
Priority Data:
61/446,404 24.02.2011 US
Title (EN) SYSTEM FOR DETECTION OF NON-UNIFORMITIES IN WEB-BASED MATERIALS
(FR) SYSTÈME POUR LA DÉTECTION DE NON-UNIFORMITÉS DANS DES MATIÈRES À BASE DE BANDE CONTINUE
Abstract: front page image
(EN)A system is described for detecting the presence of non-uniformity patterns and providing output indicative of a severity of each type of non-uniformity pattern. The system includes a computerized rating tool that assists a user in efficiently and consistently assigning expert ratings (i.e., labels) to a large collection of training images representing samples of a given product. In addition, the rating software develops a model that allows a computerized inspection system to detect the presence of non-uniformity patterns in a manufactured web material in real time and provide output indicative of a severity level of each pattern on a continuous scale. The system also includes algorithmic and hardware approaches to significantly that increase the throughput of the inspection system.
(FR)La présente invention a pour objet un système pour détecter la présence de motifs de non-uniformité et fournir un signal de sortie indicatif d'une gravité de chaque type de motif de non-uniformité. Le système comporte un outil de notation informatisé qui assiste un utilisateur dans l'attribution efficace et cohérente de notations d'expert (c'est-à-dire d'étiquettes) à une grande collection d'images expérimentales représentant des échantillons d'un produit donné. En outre, le logiciel de notation développe un modèle qui permet à un système d'inspection informatisé de détecter la présence de motifs de non-uniformité dans une matière en bande continue manufacturée en temps réel et de fournir un signal de sortie indicatif d'un niveau de gravité de chaque motif sur une échelle continue. Le système comporte aussi des approches algorithmiques et matérielles qui augmentent significativement le rendement du système d'inspection.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)