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1. (WO2012115653) ATOMIC FORCE MICROSCOPY CONTROLLER AND METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/115653    International Application No.:    PCT/US2011/026191
Publication Date: 30.08.2012 International Filing Date: 25.02.2011
IPC:
G01Q 60/24 (2010.01), G01Q 10/00 (2010.01)
Applicants: AGILENT TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 5301 Stevens Creek Boulevard Santa Clara, CA 95051-7201 (US) (For All Designated States Except US).
MOON, Christopher, Ryan [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: MOON, Christopher, Ryan; (US)
Agent: IMPERATO, John; Agilent Technologies, Inc. P.O. Box 7599 Loveland, CO 80537-0599 (US)
Priority Data:
Title (EN) ATOMIC FORCE MICROSCOPY CONTROLLER AND METHOD
(FR) DISPOSITIF DE COMMANDE ET PROCÉDÉ DE MICROSCOPIE À FORCES ATOMIQUES
Abstract: front page image
(EN)A method for determining a loop response for an apparatus for an atomic force microscope is disclosed. The method comprises: determining a loop response for an on- surface movement of a cantilever over a frequency range; determining a loop response for an off-surface movement of the cantilever over the frequency range; and adjusting an output of the controller at a frequency based on the loop response for the off-surface movement. An atomic force microscopy system is disclosed.
(FR)L'invention porte sur un procédé qui permet de déterminer une réponse de boucle pour un appareil pour un microscope à forces atomiques. Le procédé comporte les étapes suivantes : la détermination d'une réponse de boucle pour un mouvement sur la surface d'un porte-à-faux sur une plage de fréquences ; la détermination d'une réponse de boucle pour un mouvement hors de la surface du porte-à-faux sur la plage de fréquences ; le réglage d'une sortie du dispositif de commande à une fréquence en fonction de la réponse de boucle pour le mouvement hors de la surface. L'invention porte également sur un système de microscopie à forces atomiques.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)