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1. (WO2012115629) X-RAY INSPECTION SYSTEM AND METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/115629    International Application No.:    PCT/US2011/025777
Publication Date: 30.08.2012 International Filing Date: 22.02.2011
IPC:
G01N 23/10 (2006.01)
Applicants: RAPISCAN SYSTEMS, INC. [US/US]; 2805 Columbia Street Torrance, CA 90503 (US).
MORTON, Edward, James [GB/GB]; (GB) (For US Only).
BALDWIN, Francis [GB/GB]; (GB) (For US Only)
Inventors: MORTON, Edward, James; (GB).
BALDWIN, Francis; (GB)
Agent: ANSARI, Hazim; Novel IP 14252 Culver Dr. Box 914 Irvine, CA 92604 (US)
Priority Data:
Title (EN) X-RAY INSPECTION SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'INSPECTION PAR RAYONS X
Abstract: front page image
(EN)The present specification discloses an X-ray system for processing X-ray data to determine an identity of an object under inspection. The X-ray system includes an X-ray source for transmitting X-rays, where the X-rays have a range of energies, through the object, a detector array for detecting the transmitted X-rays, where each detector outputs a signal proportional to an amount of energy deposited at the detector by a detected X-ray, and at least one processor that reconstructs an image from the signal, where each pixel within the image represents an associated mass attenuation coefficient of the object under inspection at a specific point in space and for a specific energy level, fits each of pixel to a function to determine the mass attenuation coefficient of the object under inspection at the point in space; and uses the function to determine the identity of the object under inspection.
(FR)La présente invention porte sur un système à rayons X pour traiter des données de rayons X afin de déterminer l'identité d'un objet qui est inspecté. Le système à rayons X comprend une source de rayons X pour transmettre des rayons X, les rayons X ayant une certaine plage d'énergies, à travers l'objet, un réseau de détecteurs pour détecter les rayons X transmis, chaque détecteur émettant un signal proportionnel à une quantité d'énergie déposée sur le détecteur par un rayon X détecté, et au moins un processeur qui reconstruit une image à partir du signal, chaque pixel dans l'image représentant un coefficient d'atténuation de masse associé de l'objet qui est inspecté en un point précis dans l'espace et pour un niveau d'énergie précis, attribuant chacun des pixels à une fonction afin de déterminer le coefficient d'atténuation de masse de l'objet qui est inspecté au point dans l'espace, et utilisant la fonction pour déterminer l'identité de l'objet qui est inspecté.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)