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1. (WO2012115150) SIGNAL PROCESSING DEVICE AND LASER MEASUREMENT DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/115150    International Application No.:    PCT/JP2012/054277
Publication Date: 30.08.2012 International Filing Date: 22.02.2012
IPC:
G01N 21/39 (2006.01)
Applicants: MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD. [JP/JP]; 16-5, Konan 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1088215 (JP) (For All Designated States Except US).
LOARANT CORPORATION [JP/JP]; 4-16, Higashitenma 1-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300044 (JP) (For All Designated States Except US).
KONDOU, Akio; (For US Only).
KOBAYASHI, Yasuyuki; (For US Only).
TAKAKUWA, Yoshinao; (For US Only).
SHIGEKI, Kenji; (For US Only)
Inventors: KONDOU, Akio; .
KOBAYASHI, Yasuyuki; .
TAKAKUWA, Yoshinao; .
SHIGEKI, Kenji;
Agent: SAKAI, Hiroaki; Sakai International Patent Office, Kasumigaseki Building, 2-5, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1006020 (JP)
Priority Data:
2011-040515 25.02.2011 JP
Title (EN) SIGNAL PROCESSING DEVICE AND LASER MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE SIGNAL ET DISPOSITIF DE MESURE LASER
(JA) 信号処理装置およびレーザ計測装置
Abstract: front page image
(EN)A signal processing device and a laser measurement device, having: an A/D converter that converts a light reception signal to digital data; a DFT calculation unit that obtains a one-frame portion of the digital data for the light reception signal converted by the A/D converter, discrete Fourier transforms the obtained one-frame portion of digital data using a specified frequency, which is a modulation frequency multiplied by an integer, and frequencies having the specified frequency as the center frequency and differing by an integral multiple of the step frequency, and calculates a DFT component using the specified frequency and frequencies having the specified frequency as the center frequency and differing by an integral multiple of the step frequency; a convolutional calculation unit that performs convolutional calculation on the DFT component calculated by the DFT calculation unit; and an inverse DFT calculation unit that performs inverse discrete Fourier transformation of the result calculated by the convolutional calculation unit, and generates a spectroscopic signal.
(FR)L'invention concerne un dispositif de traitement de signal et un dispositif de mesure laser comportant un convertisseur A/N qui convertit un signal de réception de lumière en données numériques, une unité de calcul de DFT (transformée de Fourier discrète) qui obtient une partie à trame unique de données numériques pour le signal de réception de lumière converti par le convertisseur A/N, une transformée de Fourier discrète transformant la partie à trame unique de données numériques obtenue à l'aide d'une fréquence spécifiée qui est une fréquence de modulation multipliée par un nombre entier et de fréquences présentant la fréquence spécifiée en tant que fréquence centrale et différant par un multiple entier de la fréquence échelonnée, et qui calcule une composante DFT à l'aide de la fréquence spécifiée et des fréquences présentant la fréquence spécifiée en tant que fréquence centrale et différant par un multiple entier de la fréquence échelonnée, une unité de calcul convolutionnel qui effectue un calcul convolutionnel sur la composante DFT calculée par l'unité de calcul, et une unité de calcul de DFT inverse qui effectue une transformation de Fourier discrète inverse sur le résultat calculé par l'unité de calcul convolutionnel, et qui génère un signal spectroscopique.
(JA) 信号処理装置およびレーザ計測装置であって、受光信号をデジタルデータに変換するA/D変換部と、A/D変換部で変換された受光信号のデジタルデータを1フレーム分取得し、取得した1フレーム分のデジタルデータを、変調周波数を整数倍した周波数である指定周波数および指定周波数を中心として周波数がステップ周波数の整数倍分異なる周波数のそれぞれで離散フーリエ変換し、指定周波数および指定周波数を中心として周波数がステップ周波数の整数倍分異なる周波数のそれぞれでDFT成分を算出するDFT計算部と、DFT計算部で算出したDFT成分に対して畳み込み計算する畳み込み計算部と、畳み込み計算部で計算した結果に対し逆離散フーリエ変換を行い、スペクトル信号を生成する逆DFT計算部と、を有する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)