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1. (WO2012113165) AUTOMATIC OPTICAL INSPECTION DEVICE AND CALIBRATING METHOD THEREOF
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/113165    International Application No.:    PCT/CN2011/071704
Publication Date: 30.08.2012 International Filing Date: 10.03.2011
IPC:
G01N 21/958 (2006.01), G01N 21/88 (2006.01)
Applicants: SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; Wang, Kexin Section B, G/F Comprehensive Building 1, Huiye Science Park Guanguang Rd., Tangjia Community, Gongming Office, Guangming New District Shenzhen, Guangdong 518106 (CN) (For All Designated States Except US).
CHOU, Ping-hung [CN/CN]; (CN) (For US Only).
HE, Chengming [CN/CN]; (CN) (For US Only)
Inventors: CHOU, Ping-hung; (CN).
HE, Chengming; (CN)
Agent: ESSEN PATENT & TRADEMARK AGENCY; Wang, Kexin Cyber Times Tower A, Room 1409 Tian'an Cyber Park, Futian District Shenzhen, Guangdong 518040 (CN)
Priority Data:
201110046752.8 25.02.2011 CN
Title (EN) AUTOMATIC OPTICAL INSPECTION DEVICE AND CALIBRATING METHOD THEREOF
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION OPTIQUE AUTOMATIQUE ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE DE CELUI-CI
(ZH) 自动光学检验设备及其校正方法
Abstract: front page image
(EN)An automatic optical inspection device and a calibrating method thereof are disclosed. The automatic optical inspection device includes a stage(10) and an imaging component(20). The stage(10) includes a first fixed seat(11) which is used for placing product sheet(110), and a second fixed seat(12) which is used for placing standard sheet(120). The second fixed seat(12) is set over the first fixed seat(11). The imaging component(20) is set over the stage(10). The imaging component(20) moves a predetermined distance at a predetermined time and scans the standard sheet(120) on the second fixed seat(12) in order to achieve calibration. The invention makes calibration process of the automatic optical inspection device automatic, thereby reducing the total operation time.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d'inspection optique automatique et un procédé d'étalonnage de celui-ci. Le dispositif d'inspection optique automatique comprend une platine (10) et un composant d'imagerie (20). La platine (10) comprend un premier support fixe (11) qui est utilisé pour placer une feuille de produit (110), et un deuxième support fixe (12) qui est utilisé pour placer la feuille étalon (120). Le deuxième support fixe (12) est installé sur le premier support fixe (11). Le composant d'imagerie (20) est installé sur la platine (10). Le composant d'imagerie (20) se déplace d'une distance prédéterminée à un temps prédéterminé et balaye la feuille étalon (120) sur le deuxième support fixe (12) afin d'obtenir un étalonnage. L'invention rend le processus d'étalonnage du dispositif d'inspection optique automatique, de manière à réduire le temps d'opération total.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)