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1. (WO2012111135) MEMORY DIAGNOSTIC DEVICE, MEMORY DIAGNOSTIC METHOD, AND PROGRAM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/111135    International Application No.:    PCT/JP2011/053465
Publication Date: 23.08.2012 International Filing Date: 18.02.2011
IPC:
G06F 12/16 (2006.01)
Applicants: Mitsubishi Electric Corporation [JP/JP]; 7-3, Marunouchi 2-chome,Chiyoda-ku, Tokyo 1008310 (JP) (For All Designated States Except US).
ICHIOKA, Ryoya [--/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: ICHIOKA, Ryoya; (JP)
Agent: MIZOI, Shoji; MIZOI INTERNATIONAL PATENT FIRM, NTA Ofuna Building 3rd floor, 17-10, Ofuna 2-chome, Kamakura-shi, Kanagawa 2470056 (JP)
Priority Data:
Title (EN) MEMORY DIAGNOSTIC DEVICE, MEMORY DIAGNOSTIC METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF, PROCÉDÉ ET PROGRAMME DE DIAGNOSTIC DE MÉMOIRE
(JA) メモリ診断装置及びメモリ診断方法及びプログラム
Abstract: front page image
(EN)A RAM (200) to be diagnosed is divided into n base regions (where n is an integer equal to or greater than 3), two base regions are selected from the divided base regions during an idle time in periodic processing performed in a system in which the RAM (200) in mounted, and the two selected base regions are diagnosed using a diagnostic scheme capable of detecting a coupling fault. Subsequently, an operation is repeated in which a previously unselected pair of base regions is selected and the selected pair is diagnosed in each idle time in the periodic processing, and diagnosis is performed on all pairs.
(FR)Une mémoire vive (200) devant faire l'objet d'un diagnostic est divisée en n régions de base (n étant un entier supérieur ou égal à 3). Deux régions de base sont sélectionnées parmi les régions de base divisées pendant un temps d'inactivité au cours d'un traitement périodique réalisé dans un système contenant la mémoire vive (200). Les deux régions de base sélectionnées sont soumises à un diagnostic en utilisant un schéma de diagnostic pouvant détecter un défaut de couplage. Le procédé répète ensuite une opération au cours de laquelle il sélectionne une paire de régions de base non sélectionnées précédemment. La paire sélectionnée est soumise à un diagnostic pendant chaque temps d'inactivité au cours du traitement périodique. Le diagnostic est réalisé sur toutes les paires.
(JA) 診断対象のRAM200をn個(nは3以上の整数)のベース領域に分割し、RAM200が搭載されているシステムで行われる周期処理の空き時間において、分割されたベース領域から2つのベース領域を選出し、選出された2つのベース領域に対して、カップリングフォルトを検出できる診断方式にて診断を行い、以降、周期処理の空き時間ごとに、未選出のベース領域のペアを選出して、選出されたペアに診断を行う動作を繰り返し、全てのペアに対して診断を実施する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)