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1. (WO2012110898) SYSTEM AND METHOD FOR MULTI-SCANNER X-RAY INSPECTION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/110898    International Application No.:    PCT/IB2012/000570
Publication Date: 23.08.2012 International Filing Date: 16.02.2012
IPC:
G01N 23/04 (2006.01), G01V 5/00 (2006.01)
Applicants: DREISEITEL, Pia [--/DE]; (DE) (For US Only).
MUENSTER, Matthias [--/DE]; (DE) (For US Only).
KOENIG, Sebastian [--/DE]; (DE) (For US Only).
SMITHS HEIMANN GMBH [DE/DE]; Im Herzen 4 65205 Wiesbaden (DE) (For All Designated States Except US)
Inventors: DREISEITEL, Pia; (DE).
MUENSTER, Matthias; (DE).
KOENIG, Sebastian; (DE)
Priority Data:
61/444,541 18.02.2011 US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD FOR MULTI-SCANNER X-RAY INSPECTION
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'INSPECTION AUX RAYONS X À SCANNERS MULTIPLES
Abstract: front page image
(EN)A method of analyzing a target item utilizing multiple scanners is disclosed. The method can include providing an item comprising a material. The method can further include acquiring a first set of scan data associated with the item using a first scanner, and acquiring a second set of scan data associated with the item using a second scanner. The method can further include generating a first set of transform data from the first set of scan data, analyzing the first set of transform data to identify a subset of the first set of transform data associated with a first region, and analyzing the second set of scan data to identify a subset of the second set of scan data associated with a second region. The method can also include generating a measure that at least a portion of scan data is consistent with a presence of a candidate material in the item, where the portion of scan data is selected from at least one of the set consisting of: the subset of the first set of transform data and the subset of the second set of scan data.
(FR)L'invention concerne un procédé d'analyse d'un objet cible en utilisant de multiples scanners. Le procédé peut comprendre l'étape consistant à disposer d'un objet comprenant un matériau. Le procédé peut en outre comprendre l'étape consistant à acquérir un premier ensemble de données de balayage associé à l'objet en utilisant un premier scanner, et à acquérir un second ensemble de données de balayage associé à l'objet en utilisant un second scanner. Le procédé peut en outre comprendre l'étape consistant à générer un premier ensemble de données de transformée à partir du premier ensemble de données de balayage, à analyser le premier ensemble de données de transformée afin d'identifier un sous-ensemble du premier ensemble de données de transformée associé à une première région, et à analyser le second ensemble de données de balayage afin d'identifier un sous-ensemble du second ensemble de données de balayage associé à une seconde région. Le procédé peut également comprendre l'étape consistant à générer une mesure avec laquelle une partie au moins des données de balayage est cohérente en présence d'un matériau candidat dans l'objet, un partie des données de balayage étant choisie à partir d'au moins un des ensembles comprenant : le sous-ensemble du premier ensemble de données de transformée et le sous-ensemble du second ensemble de données de balayage.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)