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1. (WO2012109892) METHOD AND SYSTEM FOR IMPROVING PRECISION OF ELEMENT MEASUREMENT BASED ON LASER-INDUCED BREAKDOWN SPECTROSCOPY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/109892    International Application No.:    PCT/CN2011/079129
Publication Date: 23.08.2012 International Filing Date: 30.08.2011
IPC:
G01N 21/63 (2006.01)
Applicants: TSINGHUA UNIVERSITY [CN/CN]; Post Box 100084 branch 82 Tsinghua University Patent Office Haidian District, Beijing 100084 (CN) (For All Designated States Except US).
WANG, Zhe [CN/CN]; (CN) (For US Only).
LI, Zheng [CN/CN]; (CN) (For US Only).
YUAN, Tingbi [CN/CN]; (CN) (For US Only).
HOU, Zongyu [CN/CN]; (CN) (For US Only).
LI, Lizhi [CN/CN]; (CN) (For US Only).
FENG, Jie [CN/CN]; (CN) (For US Only)
Inventors: WANG, Zhe; (CN).
LI, Zheng; (CN).
YUAN, Tingbi; (CN).
HOU, Zongyu; (CN).
LI, Lizhi; (CN).
FENG, Jie; (CN)
Agent: BEIJING GRANDER IP LAW FIRM; Room 18A6, East Wing, Hanwei Plaza No.7 Guanghua Road, Chaoyang District Beijing 100004 (CN)
Priority Data:
201110040537.7 18.02.2011 CN
201110210361.5 26.07.2011 CN
Title (EN) METHOD AND SYSTEM FOR IMPROVING PRECISION OF ELEMENT MEASUREMENT BASED ON LASER-INDUCED BREAKDOWN SPECTROSCOPY
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME D'AMÉLIORATION DE LA PRÉCISION DE MESURE D'UN ÉLÉMENT BASÉS SUR LA SPECTROSCOPIE SUR PLASMA INDUIT PAR LASER
(ZH) 基于激光诱导击穿光谱提高元素测量精度的方法和系统
Abstract: front page image
(EN)The present invention provides a method and a system for improving the precision of element measurement based on laser-induced breakdown spectroscopy. The method comprises: pressing a sample to be measured with a tabletting press; making a hole on or immediately above a surface of the pressed sample to be measured; forming a layer of aerosol immediately above the surface of the sample to be measured, with the components thereof completely identical to those of the sample to be measured; testing the sample to be measured by using a laser-induced breakdown spectroscopic system, so as to obtain the intensities of the characteristic spectral lines of a target element in the sample to be measured; and determining the concentration of the target element in the sample to be measured according to a calibration curve of the target element in a preset calibration sample. With the present invention, the plasma formed by laser ablation can be more uniform and more in conformity with local thermal equilibrium conditions, thus increasing the reproducibility of the measurement and improving the precision of element measurement in laser-induced breakdown spectroscopy technology.
(FR)La présente invention concerne un procédé et un système d'amélioration de la précision de mesure d'un élément basés sur la spectroscopie sur plasma induit par laser. Le procédé comprend les étapes consistant à : comprimer un échantillon à mesurer avec une presse à tablettes ; réaliser un trou sur ou immédiatement au-dessus d'une surface de l'échantillon comprimé à mesurer ; former une couche d'aérosol immédiatement au-dessus de la surface de l'échantillon à mesurer, dont les composants sont complètement identiques à ceux de l'échantillon à mesurer ; tester l'échantillon à mesurer en utilisant un système de spectroscopie sur plasma induit par laser, de sorte à obtenir les intensités des lignes spectrales caractéristiques d'un élément cible dans l'échantillon à mesurer ; et déterminer la concentration de l'élément cible dans l'échantillon à mesurer selon une courbe d'étalonnage de l'élément cible dans un échantillon d'étalonnage préétabli. Grâce à la présente invention, le plasma formé par ablation par laser peut être plus uniforme et plus conforme aux conditions d'équilibre thermique locales, augmentant ainsi la reproductibilité de la mesure et améliorant de ce fait la précision de la mesure de l'élément au sein d'une technologie de spectroscopie sur plasma induit par laser.
(ZH)本发明提供了一种基于激光诱导击穿光谱提高元素测量精度的方法和系统,所述方法包括:利用压片机将待测样品压制成型;在所述压制成型的待测样品的表面或者紧贴表面的上方制作坑洞;在待测样品紧贴表面的上方形成一层与所述待测样品成分完全相同的气溶胶;利用激光诱导击穿光谱系统对所述待测样品进行检测,获取所述待测样品中目标元素的特征谱线强度;根据预设定标样品中的目标元素的定标曲线,确定所述待测样品中目标元素的浓度。利用本发明,能够使激光烧蚀形成的等离子体更加均匀,更加符合局部热平衡(LTE)条件,从而增加测量的重复性,提高激光诱导击穿光谱技术的元素测量精度。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)