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1. (WO2012109307) BACKSCATTER ENERGY ANALYSIS FOR CLASSIFICATION OF MATERIALS BASED ON POSITIONAL NON-COMMUTATIVITY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/109307    International Application No.:    PCT/US2012/024248
Publication Date: 16.08.2012 International Filing Date: 08.02.2012
IPC:
G01N 23/203 (2006.01)
Applicants: AMERICAN SCIENCE AND ENGINEERING, INC. [US/US]; 829 Middlesex Turnpike Billerica, MA 01821 (US) (For All Designated States Except US).
ROTHSCHILD, Peter [US/US]; (US) (For US Only).
ZHANG, Ming [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: ROTHSCHILD, Peter; (US).
ZHANG, Ming; (US)
Agent: SUNSTEIN, Bruce, D.; Sunstein Kann Murphy & Timbers LLP 125 Summer Street Boston, MA 02110 (US)
Priority Data:
61/440,491 08.02.2011 US
Title (EN) BACKSCATTER ENERGY ANALYSIS FOR CLASSIFICATION OF MATERIALS BASED ON POSITIONAL NON-COMMUTATIVITY
(FR) ANALYSE D'ÉNERGIE DE RÉTRODIFFUSION POUR CLASSIFICATION DE MATÉRIAUX EN FONCTION DE NON COMMUTATIVITÉ POSITIONNELLE
Abstract: front page image
(EN)A system and methods for characterizing regions within, or on, an inspected object, wherein a lower-Z scattering material and a higher-Z material both lie along a common line of sight. The inspected object is scanned with penetrating radiation characterized by an energy distribution, and penetrating radiation scattered by the inspected object is detected in a manner that generates a first detector signal that distinguishes between materials of higher and lower effective atomic number under a first set of conditions with respect to the energy distribution of the penetrating radiation and a second detector signal that distinguishes between materials of higher and lower effective atomic number under a second set of conditions with respect to the energy distribution of the penetrating radiation. An image is generated, based on a function of the first detector signal and the second detector signal, while the first and the second detector signals are also combined to create a differential image, so as to allow distinction of higher-Z and lower-Z materials.
(FR)L'invention porte sur un système et sur des procédés qui permettent de caractériser des régions dans ou sur un objet inspecté, un matériau de rétrodiffusion à Z inférieur et un matériau à Z supérieur reposant tous deux le long d'une ligne de visée commune. L'objet inspecté est balayé avec un rayonnement de pénétration caractérisé par une distribution d'énergie, un rayonnement de pénétration diffusé par l'objet inspecté étant détecté d'une manière qui génère un premier signal de détecteur, qui effectue une distinction entre des matériaux de numéro atomique effectif supérieur et inférieur, dans un premier ensemble de conditions par rapport à la distribution d'énergie du rayonnement de pénétration, et un second signal de détecteur, qui effectue une distinction entre des matériaux de numéro atomique effectif supérieur et inférieur, dans un second ensemble de conditions par rapport à la distribution d'énergie du rayonnement de pénétration. Une image est générée sur la base d'une fonction du premier signal de détecteur et du second signal de détecteur, alors que les premier et second signaux de détecteur sont également combinés afin de créer une image différentielle, de façon à permettre une distinction de matériaux à Z supérieur et Z inférieur.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)