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1. (WO2012108258) METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING ELECTROSTATIC CHARGE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/108258    International Application No.:    PCT/JP2012/051492
Publication Date: 16.08.2012 International Filing Date: 25.01.2012
IPC:
G01R 29/24 (2006.01), G01R 29/08 (2006.01), G01R 29/12 (2006.01)
Applicants: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-Ku, Tokyo 1008921 (JP) (For All Designated States Except US).
KIKUNAGA Kazuya [JP/JP]; (JP) (For US Only).
NONAKA Kazuhiro [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: KIKUNAGA Kazuya; (JP).
NONAKA Kazuhiro; (JP)
Agent: MIZOGUCHI Yoshitaka; 1-18-402, Fujisaki 2-Chome, Sawara-ku, Fukuoka-shi Fukuoka 8140013 (JP)
Priority Data:
2011-025542 09.02.2011 JP
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING ELECTROSTATIC CHARGE
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR LA MESURE D'UNE CHARGE ÉLECTROSTATIQUE
(JA) 静電気帯電計測方法及び装置
Abstract: front page image
(EN)[Problem] Provided are a method and an apparatus for measuring electrostatic charge, which satisfy, at the same time, the following three conditions where (1) electrostatic charge is measured in a nondestructive manner, (2) electrostatic charge is measured by reducing environmental influences to a subject to be measured, under the environments having a metal and an insulating material mixed therein, and (3) electrostatic charge is measured without having the apparatus in proximity. [Solution] An electrostatic charge measuring method of the present invention is provided with: an applying step, in which oscillation of previously selected oscillation frequency and amplitude is applied to a subject to be measured; an intensity measurement step, in which intensity of electromagnetic waves generated due to the oscillation of the subject to be measured is measured; and a state measurement step, in which, on the basis of the electromagnetic wave intensity measured in the measurement step, the electrostatic charge state of the subject to be measured is measured.
(FR)L'invention vise à proposer un procédé et un appareil pour la mesure d'une charge électrostatique qui satisfont en même temps les trois conditions suivantes : (1) la charge électrostatique est mesurée de manière non destructive, (2) la charge électrostatique est mesurée en réduisant les influences de l'environnement sur un sujet à mesurer, dans des environnements ayant un métal et une matière isolante mélangés dans celui-ci, et (3) la charge électrostatique est mesurée sans que l'appareil soit à proximité. A cet effet, est proposé un procédé de mesure d'une charge électrostatique comprenant : une étape d'application, dans laquelle une oscillation d'une fréquence et d'une amplitude présélectionnées sont appliquées à un sujet à mesurer ; une étape de mesure de l'intensité, dans laquelle est mesurée l'intensité d'ondes électromagnétiques produites par l'oscillation du sujet à mesurer ; et une étape de mesure de l'état, dans laquelle est mesuré l'état de charge électrostatique du sujet à mesurer, en fonction de l'intensité d'onde électromagnétique mesurée au cours de l'étape de mesure.
(JA)【課題】(1)非破壊による静電気帯電を計測する、(2)金属や絶縁物が混在する中で計測対象の環境影響を少なくして静電気帯電を計測する、(3)近接させずに静電気帯電を計測する、との3つの条件を同時に満たす、静電気帯電計測方法及び装置を提供する。 【解決手段】本発明の静電気帯電計測方法は、計測対象物に予め選定した振動数、振幅の振動を与える付与工程と、計測対象物の振動に伴って発生する電磁波の強度を計測する強度計測工程と、計測工程で計測された電磁波の強度に基づいて、前記計測対象物の静電気帯電状態を計測する状態計測工程と、を備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)