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1. (WO2012107792) METHOD OF ANALYZING SEISMIC DATA
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/107792    International Application No.:    PCT/IB2011/000478
Publication Date: 16.08.2012 International Filing Date: 08.02.2011
IPC:
G01V 1/30 (2006.01)
Applicants: TOTAL SA [FR/FR]; 2 place Jean Millier La Défense 6 F-92400 Courbevoie (FR) (For All Designated States Except US).
LANDA, Evgeny [IL/FR]; (FR) (For US Only).
BAINA, Reda [FR/FR]; (FR) (For US Only)
Inventors: LANDA, Evgeny; (FR).
BAINA, Reda; (FR)
Agent: LOISEL, Bertrand; Cabinet Plasseraud 52 rue de la Victoire F-75440 Paris Cedex 09 (FR)
Priority Data:
Title (EN) METHOD OF ANALYZING SEISMIC DATA
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE DE DONNÉES SISMIQUES
Abstract: front page image
(EN)Post-migration common image gathers (CIGs) are generated in a dip angle domain from measured seismic data. From a CIG, a hybrid Radon model is determined, including a reflection model related to concave features in the CIG and a diffraction model related to linear features in the CIG. The reflection model is transformed with a reflection Radon operator applied along inversion trajectories restricted around apices of the concave features to obtain reflection data. The diffraction model is transformed with a diffraction Radon operator to obtain diffraction data. The reflection and diffraction data at different horizontal positions can then be combined and summed to generate a migrated image of the subsurface.
(FR)L'invention concerne un procédé qui comprend une étape consistant à générer des collections d'images communes (common image gathers, CIG) après migration dans un domaine d'angle de pendage à partir de données sismiques mesurées. A partir d'une CIG, un modèle hybride de Radon est déterminé, comprenant un modèle de réflexion lié à des détails concaves dans la CIG et un modèle de diffraction lié à des détails linéaires dans la CIG. Le modèle de réflexion est transformé au moyen d'un opérateur de Radon de réflexion appliqué le long de trajectoires d'inversion restreintes autour de sommets des détails concaves pour obtenir des données de réflexion. Le modèle de diffraction est transformé au moyen d'un opérateur de Radon de diffraction pour obtenir des données de diffraction. Les données de réflexion et de diffraction à différentes positions horizontales peuvent alors être combinées et sommées pour générer une image migrée du sous-sol.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)