WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2012107468) MICROSCOPE HAVING AN AUTOFOCUSING DEVICE AND AUTOFOCUSING METHOD FOR MICROSCOPES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/107468    International Application No.:    PCT/EP2012/052097
Publication Date: 16.08.2012 International Filing Date: 08.02.2012
IPC:
G02B 21/24 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01)
Applicants: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE/DE]; Ernst-Leitz-Str. 17-37 35578 Wetzlar (DE) (For All Designated States Except US).
KRUEGER, Ralf [DE/DE]; (DE) (For US Only).
BAUER, Tobias [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: KRUEGER, Ralf; (DE).
BAUER, Tobias; (DE)
Agent: GRUNERT, Marcus; Kudlek & Grunert Patentanwälte Postfach 33 04 29 80064 München (DE)
Priority Data:
10 2011 003 807.8 08.02.2011 DE
Title (DE) MIKROSKOP MIT AUTOFOKUSEINRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR AUTOFOKUSSIERUNG BEI MIKROSKOPEN
(EN) MICROSCOPE HAVING AN AUTOFOCUSING DEVICE AND AUTOFOCUSING METHOD FOR MICROSCOPES
(FR) MICROSCOPE ÉQUIPÉ D'UN DISPOSITIF DE FOCALISATION AUTOMATIQUE ET PROCÉDÉ DE FOCALISATION AUTOMATIQUE POUR MICROSCOPES
Abstract: front page image
(DE)Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Autofokussierung bei der mikroskopischen Untersuchung eines im Fokus eines Mikroskopobjektivs (2) eines Mikroskops (1) liegenden Objekts (3) unter Verwendung eines Autofokusstrahlengangs (4), wobei der Autofokusstrahlengang (4) über eine auf der objektabgewandten Mikroskopobjektivseite angeordnete Umlenkeinrichtung (5) in Richtung Mikroskopobjektiv (2) und von dort auf eine reflektierende Autofokus-Grenzfläche (7) im Objektbereich gelenkt wird, und der an der Autofokus-Grenzfläche (7) reflektierte Autofokusstrahlengang (4) über das Mikroskopobjektiv (2) und die Umlenkeinrichtung (5) in Richtung eines Autofokusdetektors (9) gelenkt wird, wobei die Umlenkeinrichtung (5) zur Erzeugung interferierender Teilstrahlen (41, 42, 43, 44) des Autofokusstrahlengangs (4) zwei in Ausbreitungsrichtung des Autofokusstrahlengangs (4) zueinander beabstandete und den Autofokusstrahlengang (4) jeweils reflektierende Bereiche (51, 52; 53, 54) aufweist, und wobei der Autofokusdetektor (9) in einer zur Mikroskopobjektivpupille konjugierten Ebene angeordnet ist, um ein dort erzeugtes Interferenzmuster aufzunehmen, wobei abhängig von dem aufgenommenen Interferenzmuster (10) der Fokus des Mikroskops (1) eingestellt wird.
(EN)The invention relates to an autofocusing method for use in the microscopic examination of an object (3) lying in the focus of a microscope objective (2) of a microscope (1), using an autofocus beam path (4), wherein the autofocus beam path (4) is directed toward the microscope objective (2) by means of a deflecting device (5) arranged on the side of the microscope objective facing away from the object and from there to a reflective autofocus interface (7) in the object region, and the autofocus beam path (4) reflected on the autofocus interface (7) is directed toward an autofocus detector (9) by means of the microscope objective (2) and the deflecting device (5), wherein the deflecting device (5) has two regions (51, 52; 53, 54), which are arranged at a distance from each other in the propagation direction of the autofocus beam path (4) and which each reflect the autofocus beam path (4), for producing interfering sub-beams (41, 42, 43, 44) of the autofocus beam path (4), and wherein the autofocus detector (9) is arranged in a plane conjugate to that of the microscope objective aperture in order to detect an interference pattern produced there, wherein the focus of the microscope (1) is adjusted according to the detected interference pattern (10).
(FR)La présente invention concerne un procédé de focalisation automatique dans le cadre de l'analyse microscopique d'un objet (3) se trouvant dans le foyer d'un objectif (2) d'un microscope (1), ledit procédé utilisant un chemin optique de focalisation automatique (4). Le chemin optique de focalisation automatique (4) est dirigé par l'intermédiaire d'un dispositif de déviation (5) agencé du côté de l'objectif opposé à l'objet en direction de l'objectif (2) et de là vers une surface limite réfléchissante de focalisation automatique (7) dans la zone de l'objet, et le chemin optique de focalisation automatique (4) réfléchi sur la surface limite de focalisation automatique (7) est dirigé par l'intermédiaire de l'objectif (2) et du dispositif de déviation (5) en direction d'un détecteur de focalisation automatique (9). Le dispositif de déviation (5) présente, pour la génération de parties de faisceau interférentes (41, 42, 43, 44) du chemin optique de focalisation automatique (4), deux zones (51, 52; 53, 54) espacées l'une de l'autre dans la direction de propagation du chemin optique de focalisation automatique (4) et réfléchissant chacune le chemin optique de focalisation automatique (4), et le détecteur de focalisation automatique (9) est agencé dans un plan conjugué par rapport à la pupille de l'objectif pour enregistrer un modèle d'interférence produit dans ledit plan, la focalisation du microscope (1) étant réglée en fonction du modèle d'interférence (10) enregistré.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)