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1. (WO2012105127) MEASUREMENT ERROR CORRECTION METHOD AND ELECTRONIC COMPONENT CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/105127    International Application No.:    PCT/JP2011/078624
Publication Date: 09.08.2012 International Filing Date: 10.12.2011
IPC:
G01R 27/28 (2006.01), G01R 35/00 (2006.01)
Applicants: Murata Manufacturing Co., Ltd. [JP/JP]; 10-1, Higashikotari 1-chome, Nagaokakyo-shi, Kyoto 6178555 (JP) (For All Designated States Except US).
MORI Taichi [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: MORI Taichi; (JP)
Agent: YAMAMOTO Toshinori; SHINGIJUTSU PATENT OFFICE, Room 810, Kondo-bldg., 4-12, Nishitenma 4-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300047 (JP)
Priority Data:
2011-017814 31.01.2011 JP
Title (EN) MEASUREMENT ERROR CORRECTION METHOD AND ELECTRONIC COMPONENT CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE CORRECTION D'UNE ERREUR DE MESURE ET DISPOSITIF DE MESURE D'UNE CARACTÉRISTIQUE D'UN COMPOSANT ÉLECTRONIQUE
(JA) 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置
Abstract: front page image
(EN)Provided are a measurement error correction method and an electronic component characteristic measurement device extendable to an arbitrary number of ports and capable of dispensing with VNA correction while obtaining the effect of a relative correction method which models a leak signal of between ports. For correction data acquisition samples having mutually different electrical characteristics, electrical characteristics SD and ST are measured in a state (40) mounted on a reference jig and in a state (50) mounted on a test jig, and for each signal source port a numerical formula (52) is determined which, given a measurement system which includes a measurement instrument for measuring electrical characteristics, assumes the existence of a leak signal directly transmitted between at least two ports of the reference jig and/or the test jig. The electrical characteristics of an arbitrary electronic component are measured in a state (50) mounted on the test jig, and the determined numerical formula (52) is used to calculate the electrical characteristics that would probably be obtained if said electronic component were to be measured in a state (40) mounted on the reference jig.
(FR)La présente invention concerne un procédé de correction d'une erreur de mesure et un dispositif de mesure d'une caractéristique de composant électronique pouvant s'étendre à un nombre arbitraire de ports et apporter une correction VNA tout en obtenant l'effet d'un procédé de correction relative qui modélise un signal de fuite entre ports. Pour des échantillons d'acquisition de données de correction présentant des caractéristiques électriques mutuellement différentes, des caractéristiques électriques SD et ST sont mesurées dans un état (40) monté sur un gabarit de référence et dans un état (50) monté sur un gabarit de test, et pour chaque port de source de signal une formule numérique (52) est déterminée, et étant donné un système de mesure qui comprend un instrument de mesure permettant de mesurer des caractéristiques électriques, ladite formule suppose l'existence d'un signal de fuite directement transmis entre au moins deux ports du gabarit de référence et/ou du gabarit de test. Les caractéristiques électriques d'un composant électronique arbitraire sont mesurées dans un état (50) monté sur le gabarit de test et la formule numérique déterminée (52) est utilisée pour calculer les caractéristiques électriques qui seraient probablement obtenues si ledit composant électronique devait être mesuré dans un état (40) monté sur le gabarit de référence.
(JA) 任意のポート数に拡張可能であり、ポート間漏洩信号をモデル化した相対補正法の効果を得ながら、VNAの校正を不要とすることができる測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置を提供する。 互いに異なる電気特性を有する補正データ取得試料について、基準治具に実装した状態40と試験治具に実装した状態50で電気特性S,Sを測定し、電気特性を測定するための測定器を含む測定系について信号源ポートごとに基準治具と試験治具との少なくとも一方の少なくとも2つのポート間を直接伝達する漏洩信号の存在を想定した数式52を決定する。任意の電子部品について、試験治具に実装した状態50で電気特性を測定し、決定した数式52を用いて、当該電子部品について基準治具に実装した状態40で測定したならば得られるであろう電気特性を算出する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)