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1. (WO2012103125) METHOD FOR ANALYZING AND DIAGNOSING LARGE SCALE PROCESS AUTOMATION CONTROL SYSTEMS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/103125    International Application No.:    PCT/US2012/022410
Publication Date: 02.08.2012 International Filing Date: 24.01.2012
IPC:
G05B 23/02 (2006.01)
Applicants: ABB INC. [US/US]; 12040 Regency Parkway Suite 200 Cary, NC 27518 (US) (For All Designated States Except US).
STARR, Kevin, Dale [US/US]; (US) (For US Only).
MAST, Timothy, Andrew [US/US]; (US) (For US Only).
GARVERICK, Robert, Trent [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: STARR, Kevin, Dale; (US).
MAST, Timothy, Andrew; (US).
GARVERICK, Robert, Trent; (US)
Agent: KATTERLE, Paul, R.; ABB Inc. 29801 Euclid Avenue Wickliffe, OH 44092 (US)
Priority Data:
61/435,482 24.01.2011 US
Title (EN) METHOD FOR ANALYZING AND DIAGNOSING LARGE SCALE PROCESS AUTOMATION CONTROL SYSTEMS
(FR) PROCÉDÉ POUR L'ANALYSE ET LE DIAGNOSTIC DE SYSTÈMES DE COMMANDE D'AUTOMATISATION DE PROCESSUS À GRANDE ÉCHELLE
Abstract: front page image
(EN)A method is provided for analyzing and diagnosing a large scale process automation control system having a plurality of control loops. Assessments for predefined key performance indicators (KPIs) are automatically generated for control, process and signal sections of each control loop. The automatically generated assessments of the pre-defined KPIs may be displayed in a graphical user interface (GUI) of a computer. A user may change the automatically generated assessments of the pre-defined KPIs. Different data views may also be displayed in the GUI. The data views include time series trends for measured process variable, controller output, controller set point and error, as well as controller parameter clustering views in two-dimensional and three-dimensional plots.
(FR)La présente invention concerne un procédé qui permet d'analyser et de diagnostiquer un système de commande d'automatisation de processus à grande échelle comprenant une pluralité de boucles de commande. Des estimations d'indicateurs clés de performance (KPI) prédéfinis sont réalisées automatiquement pour les sections de commande, de traitement et de signalisation de chaque boucle de commande. Les estimations des KPI prédéfinis réalisées automatiquement peuvent être affichées dans une interface utilisateur graphique (GUI) d'un ordinateur. Un utilisateur peut modifier les estimations des KPI prédéfinis réalisées automatiquement. Différentes vues de données peuvent également être affichées dans la GUI. Les vues de données incluent des tendances de séries chronologiques correspondant à une variable de processus, à une sortie de dispositif de commande, à une valeur de consigne de dispositif de commande et à une erreur mesurées, ainsi que des vues de groupement de paramètres de dispositif de commande dans des représentations bidimensionnelles et tridimensionnelles.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)