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1. (WO2012100363) METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THE REFLECTION PROPERTIES OF A REFLECTOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/100363    International Application No.:    PCT/CH2012/000024
Publication Date: 02.08.2012 International Filing Date: 30.01.2012
IPC:
F24J 2/14 (2006.01), F24J 2/40 (2006.01), G01M 11/00 (2006.01), G02B 7/28 (2006.01), G02B 26/08 (2006.01), H01L 31/052 (2006.01), G02B 7/183 (2006.01), F24J 2/38 (2006.01)
Applicants: AIRLIGHT ENERGY IP SA [CH/CH]; Via Croce 1 CH-6710 Biasca (CH) (For All Designated States Except US).
PEDRETTI, Andrea [CH/CH]; (CH) (For US Only)
Inventors: PEDRETTI, Andrea; (CH)
Agent: STUMP, Beat; Stump und Partner AG Dufourstrasse 116 CH-8008 Zürich (CH)
Priority Data:
144/11 28.01.2011 CH
Title (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG DER REFLEKTIONSEIGENSCHAFTEN EINES REFLEKTORS
(EN) METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THE REFLECTION PROPERTIES OF A REFLECTOR
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE DES PROPRIÉTÉS DE RÉFLEXION D'UN RÉFLECTEUR
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung umfasst ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Vermessung eines Reflektors für Strahlung in dessen Betrieb, bei welchem zur Bestimmung der aktuellen Reflektionseigenschaften des Reflektors in einer im Pfad der vom Reflektor reflektierten Strahlung vorgesehenen Anzahl von mindestens einem Messpunkt das Muster von vorbestimmten Eigenschaften der aktuell reflektierten Strahlung gemessen und mit einem vorbestimmten Referenzmuster verglichen wird, wobei aus dem Vergleich auf die aktuellen geometrischen Eigenschaften des Reflektors geschlossen und bei unerwünschten geometrischen Eigenschaften entsprechende Betriebsparameter des Reflektors verändert werden. Bevorzugt wird dieses Verfahren bei Rinnenkollektoren für Solarkraftwerke angewendet, um in einer Druckzelle angeordnete, flexible Konzentratoren in deren Betrieb zu vermessen.
(EN)The invention comprises a method and an apparatus for gauging a reflector for radiation during operation of said reflector, in which method, in order to determine the present reflection properties of the reflector in a number of at least one measurement point provided in the path of the radiation reflected by the reflector, the pattern of predetermined properties of the presently reflected radiation is measured and compared with a predetermined reference pattern, wherein a conclusion is drawn from the comparison on the present geometric properties of the reflector and, in the event of undesirable geometric properties, corresponding operational parameters of the reflector are altered. Preferably, this method is used in trough collectors for solar power plants in order to gauge flexible concentrators arranged in a pressure cell during operation of said concentrators.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif de mesure d'un réflecteur pour un rayonnement en fonctionnement. Pour la détermination des propriétés de réflexion réelles du réflecteur, le motif de propriétés prédéfinies du rayonnement réellement réfléchi est mesuré dans une pluralité de points de mesure prévus dans la trajectoire du rayonnement réfléchi par le réflecteur, et comparé à un motif de référence prédéfini. A partir de la comparaison, les propriétés géométriques réelles du réflecteur sont déduites et en cas de propriétés géométriques indésirables, des paramètres de fonctionnement correspondants du réflecteur sont modifiés. Ce procédé est particulièrement destiné à des collecteurs cylindro-paraboliques pour des centrales solaires afin de mesurer des concentrateurs flexibles, disposés dans une cellule de pression, en fonctionnement.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)