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1. (WO2012099234) PHOTOANALYSIS METHOD AND PHOTOANALYSIS DEVICE USING DETECTION OF LIGHT FROM SINGLE LIGHT-EMITTING PARTICLE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/099234    International Application No.:    PCT/JP2012/051175
Publication Date: 26.07.2012 International Filing Date: 20.01.2012
IPC:
G01N 21/64 (2006.01)
Applicants: OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku Tokyo 1510072 (JP) (For All Designated States Except US).
TANABE, Tetsuya [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: TANABE, Tetsuya; (JP)
Agent: AKASHI, Masaki; 5F, YH Bldg., 6-8, Shinkawa 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040033 (JP)
Priority Data:
2011-009496 20.01.2011 JP
Title (EN) PHOTOANALYSIS METHOD AND PHOTOANALYSIS DEVICE USING DETECTION OF LIGHT FROM SINGLE LIGHT-EMITTING PARTICLE
(FR) PROCÉDÉ DE PHOTOANALYSE ET DISPOSITIF ASSOCIÉ FAISANT APPEL À LA DÉTECTION DE LA LUMIÈRE ÉMISE PAR UNE PARTICULE LUMINESCENTE INDIVIDUELLE
(JA) 単一発光粒子からの光の検出を用いた光分析方法及び光分析装置
Abstract: front page image
(EN)A scanning molecule-counting method in which light measurement using a confocal microscope or a multiphoton microscope is employed, wherein the measurement time is optimized while fluctuations in results are minimized without any dependence on the density of light-emitting particles. This technique for detecting and analyzing light from light-emitting particles comprises detecting the intensity of light from a light-detection region of an optical system of a microscope while moving the position of the light-detection region in a test sample solution by changing the light path in the optical system, repeating a process of individually detecting a light signal from the light-emitting particles until the number of signals from the light-emitting particles reaches a predetermined number, and determining the concentration of the light-emitting particles in the test sample solution on the basis of the time required for the number of signals from the light-emitting particles to reach the predetermined number.
(FR)Cette invention concerne un procédé de comptage de molécules par balayage faisant appel à un microscope confocal ou à un microscope multiphoton pour mesurer la lumière, le temps de mesure étant optimisé tandis que les fluctuations des résultats sont réduites au minimum sans aucune relation de dépendance avec la densité desdites particules luminescentes. Cette technique de détection et d'analyse de la lumière émise par des particules luminescentes comprend la détection de l'intensité lumineuse provenant d'une région de détection de la lumière du système optique d'un microscope pendant le déplacement de la position de ladite région de détection de la lumière dans une solution de l'échantillon d'essai par modification du trajet lumineux dans le système optique ; la répétition d'un procédé de détection individuelle d'un signal lumineux émis par les particules luminescentes jusqu'à ce que le nombre de signaux émis par les particules luminescentes atteigne un nombre prédéterminé ; et la détermination de la concentration des particules luminescentes en fonction du temps requis pour que le nombre de signaux émis par les particules luminescentes atteigne ledit nombre prédéterminé.
(JA)共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡による光測定を用いた走査分子計数法に於いて、発光粒子の濃度に依らず、結果のばらつきを小さく抑えつつ、測定時間が最適化される。本発明の発光粒子からの光を検出し分析する技術は、顕微鏡の光学系の光路を変更することにより試料溶液内に於いて光学系の光検出領域の位置を移動させながら、光検出領域からの光の強度を検出して、発光粒子の光の信号を個別に検出する処理を発光粒子からの信号の数が予め定められた数に達するまで繰り返し発光粒子からの信号の数が予め定められた数に達するのに要した時間に基づいて試料溶液中の発光粒子の濃度を決定する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)