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1. (WO2012098677) INSULATION RESISTANCE DETECTION CIRCUIT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/098677    International Application No.:    PCT/JP2011/051097
Publication Date: 26.07.2012 International Filing Date: 21.01.2011
IPC:
G01R 27/18 (2006.01), G01R 31/02 (2006.01)
Applicants: Mitsubishi Electric Corporation [JP/JP]; 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310 (JP) (For All Designated States Except US).
IMAI, Yoshito [--/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: IMAI, Yoshito; (JP)
Agent: SAKAI, Hiroaki; Sakai International Patent Office, Kasumigaseki Building, 2-5, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1006020 (JP)
Priority Data:
Title (EN) INSULATION RESISTANCE DETECTION CIRCUIT
(FR) CIRCUIT DE DÉTECTION D'UNE RÉSISTANCE D'ISOLEMENT
(JA) 絶縁抵抗検知回路
Abstract: front page image
(EN)A CPU (4) calculates an insulation resistance value of a direct-current power source (2) using a first current value and a second current value, the first current value being measured on the basis of a voltage (Vm) (first measurement voltage of the direct-current power source (2)) measured by a voltage measurement circuit (3) and a current (Isence) (first current) measured by a current measurement circuit (7), when a switch (S1) opens a circuit, and the second current value being measured on the basis of a voltage (Vm) (second measurement voltage of the direct-current power source (2)) measured by the voltage measurement circuit (3) and a current (Isence) (second current) measured by the current measurement circuit (7), when the switch (S1) closes the circuit. The CPU (4) variably sets the time interval to open/close the switch (S1) determining the measurement time for measuring the first and second current values, in accordance with the degree of change of the first and second currents measured by the current measurement circuit (7).
(FR)L'invention concerne le calcul par une UC (4) de la valeur d'une résistance d'isolement d'une source de courant continu (2) au moyen d'une première valeur de courant et d'une seconde valeur de courant, la première valeur de courant étant mesurée sur la base d'une tension (Vm) (première tension de mesure de la source de courant continu (2)) mesurée par un circuit de mesure de tension (3) et d'un courant (Isence) (premier courant) mesuré par un circuit de mesure de courant (7), quand un commutateur (S1) ouvre un circuit, et la seconde valeur de courant étant mesurée sur la base d'une tension (Vm) (seconde tension de mesure de la source de courant continu (2)) mesurée par le circuit de mesure de tension (3) et d'un courant (Isence) (second courant) mesuré par le circuit de mesure de courant (7), quand le commutateur (S1) ferme le circuit. L'UC (4) fixe de manière variable l'intervalle de temps pour ouvrir/fermer le commutateur (S1) déterminant la durée de la mesure pour mesurer la première et la seconde valeur de courant en fonction du degré de changement du premier courant et du second courant mesurés par le circuit de mesure de courant (7).
(JA) CPU4は、スイッチS1を開路した時に電圧測定回路3が測定した電圧Vm(直流電源2の第1の測定電圧)および電流測定回路7が測定した電流Isence(第1の電流)から測定した第1の電流値と、スイッチS1を閉路した時に電圧測定回路3が測定した電圧Vm(直流電源2の第2の測定電圧)および電流測定回路7が測定した電流Isence(第2の電流)から測定した第2の電流値とを用いて直流電源2の絶縁抵抗値を算出するが、前記第1および第2の電流値を測定する測定時間を決めるスイッチS1を開閉させる時間間隔を、電流測定回路7が測定した第1および第2の電流の変化量に応じて可変設定する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)