WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2012098036) A STRAIN SENSOR APPARATUS AND METHOD OF STRAIN SENSING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/098036    International Application No.:    PCT/EP2012/050346
Publication Date: 26.07.2012 International Filing Date: 11.01.2012
IPC:
G01L 1/24 (2006.01)
Applicants: OMNISENS SA [CH/CH]; Riond Bosson 3 CH-1110 Morges (CH) (For All Designated States Except US).
Dutoit, Dana [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: Dutoit, Dana; (US)
Agent: P&TS SA; Av. J.-J. Rousseau 4 P.O. Box 2848 CH-2001 Neuchâtel (CH)
Priority Data:
00095/11 20.01.2011 CH
Title (EN) A STRAIN SENSOR APPARATUS AND METHOD OF STRAIN SENSING
(FR) APPAREIL DE CAPTEUR DE DÉFORMATION ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉFORMATION
Abstract: front page image
(EN)According to the present invention there is provided a strain sensor apparatus comprising, two or more strain sensors each of which is capable of measuring strain and each of which is configured such that it can be arranged to cooperate with a structure to be monitored so that strain in the structure can be detected by a strain sensor, and one or more position references which is/are arranged in a predetermined position relative to the two or more strain sensors and wherein the one or more position references are each configured such that they are suitable for cooperating with a measuring means;one or more measuring means which is configured to cooperate with the one or more position references so that the angular orientation of the one or more position references can be determined. There is further provided a corresponding method for sensing strain in a structure.
(FR)La présente invention porte sur un appareil de capteur de déformation, qui comprend deux ou plus de deux capteurs de déformation dont chacun est apte à mesurer une déformation et dont chacun est configuré de sorte qu'il puisse être agencé de façon à coopérer avec une structure à contrôler, de sorte qu'une déformation dans la structure puisse être détectée par un capteur de déformation, et une ou plusieurs références de position qui est/sont disposées dans une position prédéterminée par rapport aux deux ou plus de deux capteurs de déformation, la ou les références de position étant chacune configurées de sorte qu'elles soient aptes à coopérer avec un moyen de mesure; un ou plusieurs moyens de mesure qui sont configurés de façon à coopérer avec la ou les références de position, de sorte que l'orientation angulaire de la ou des références de position puisse être déterminée. L'invention porte également sur un procédé correspondant pour détecter une déformation dans une structure.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)