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1. (WO2012053645) METHOD FOR MEASURING TOOL DIMENSIONS AND MEASUREMENT DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/053645    International Application No.:    PCT/JP2011/074347
Publication Date: 26.04.2012 International Filing Date: 21.10.2011
IPC:
B23Q 17/22 (2006.01), B23Q 17/24 (2006.01), G03B 15/00 (2006.01), G06T 1/00 (2006.01), H04N 5/225 (2006.01)
Applicants: MAKINO MILLING MACHINE CO., LTD. [JP/JP]; 3-19, Nakane 2-chome, Meguro-ku, Tokyo 1528578 (JP) (For All Designated States Except US).
KURAHASHI, Yasuhiro [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: KURAHASHI, Yasuhiro; (JP)
Agent: AOKI, Atsushi; SEIWA PATENT & LAW, Toranomon 37 Mori Bldg., 5-1, Toranomon 3-chome, Minato-ku, Tokyo 1058423 (JP)
Priority Data:
2010-237762 22.10.2010 JP
2010-239868 26.10.2010 JP
2010-241331 27.10.2010 JP
Title (EN) METHOD FOR MEASURING TOOL DIMENSIONS AND MEASUREMENT DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DES DIMENSIONS D'UN OUTIL ET DISPOSITIF DE MESURE
(JA) 工具寸法の測定方法及び測定装置
Abstract: front page image
(EN)Provided are a method for measuring tool dimensions and a measurement device, whereby if a machine tool (10) cannot fit the overall outline of a tool (20) inside the field of vision (V) for an image from an imaging device (33), the field of vision (V) of the imaging device (33) is moved by relatively moving the imaging device (33) and the tool (20). In addition, the imaging device (33) can follow the outline (54) of the tool (20) by moving the field of vision (V), because the movement direction (53) for the field of vision (V) is determined on the basis of the partial outline (51) specified based on image data. In this way, even when measuring dimensions for a tool (20) with a larger diameter than the field of vision (V) of the imaging device (33), a partial outline (51) of a desired range, for example, is specified. An outline of a desired range for the tool (20) is extracted if a plurality of specified partial outlines (51) are combined. Measurement of the dimensions of the tool (20) is possible by using such outlines.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure des dimensions d'un outil et un dispositif de mesure. Selon l'invention, si une machine-outil (10) ne peut pas faire rentrer les contours globaux d'un outil (20) à l'intérieur d'un champ de vision (V) pour une image provenant d'un dispositif d'acquisition d'images (33), le champ de vision (V) du dispositif d'acquisition d'images (33) est déplacé en déplaçant de manière relative le dispositif d'acquisition d'images (33) et l'outil (20). De plus, le dispositif d'acquisition d'images (33) peut suivre la courbe de niveau (54) de l'outil (20) en déplaçant le champ de vision (V), parce que la direction de mouvement (53) pour le champ de vision (V) est déterminée sur la base de la courbe de niveau partielle (51) spécifiée sur la base des données d'image. De cette façon, une courbe de niveau partielle (51) d'une plage souhaitée, par exemple, est spécifiée même lorsqu'on mesure les dimensions pour l'outil (20) avec un diamètre plus grand que le champ de vision (V) pour le dispositif d'acquisition d'images (33). Une courbe de niveau d'une plage souhaitée pour l'outil (20) est extraite si une pluralité de courbes de niveau partielles spécifiées (51) est combinée. La mesure des dimensions de l'outil (20) est possible en utilisant de telles courbes de niveau.
(JA)工作機械(10)によれば、撮像装置(33)の画像の視野(V)内に工具(20)全体の輪郭が収まらない場合、撮像装置(33)と工具(20)との相対移動によって撮像装置(33)の視野(V)は移動する。しかも、画像データに基づき特定された部分輪郭線(51)に基づき視野(V)の移動方向(53)が決定されることから、撮像装置(33)は、視野(V)の移動によって工具(20)の輪郭線(54)を辿ることができる。こうして、撮像装置(33)の視野(V)よりも大きな径の工具(20)の寸法の測定に際しても例えば所望の範囲の部分輪郭線(51)が特定される。特定された複数の部分輪郭線(51)が結合されれば、工具(20)の所望の範囲の輪郭線が抽出される。こうした輪郭線を用いて工具(20)の寸法が測定されることが可能である。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)