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1. (WO2012053355) OPTICAL ANALYSIS DEVICE FOR OBSERVING POLARISATION CHARACTERISTICS OF SINGLE LIGHT-EMITTING PARTICLE, OPTICAL ANALYSIS METHOD AND OPTICAL ANALYSIS COMPUTER PROGRAM THEREFOR
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Pub. No.: WO/2012/053355 International Application No.: PCT/JP2011/072939
Publication Date: 26.04.2012 International Filing Date: 05.10.2011
IPC:
G01N 21/64 (2006.01) ,G02B 21/00 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
62
Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63
optically excited
64
Fluorescence; Phosphorescence
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21
Microscopes
Applicants:
山口光城 YAMAGUCHI, Mitsushiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
田邊哲也 TANABE, Tetsuya [JP/JP]; JP (UsOnly)
オリンパス株式会社 OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku Tokyo 1510072, JP (AllExceptUS)
Inventors:
山口光城 YAMAGUCHI, Mitsushiro; JP
田邊哲也 TANABE, Tetsuya; JP
Agent:
明石 昌毅 AKASHI, Masaki; 東京都中央区新川2丁目6番8号 YHビル5階 5F, YH Bldg., 6-8, Shinkawa 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040033, JP
Priority Data:
2010-23476919.10.2010JP
Title (EN) OPTICAL ANALYSIS DEVICE FOR OBSERVING POLARISATION CHARACTERISTICS OF SINGLE LIGHT-EMITTING PARTICLE, OPTICAL ANALYSIS METHOD AND OPTICAL ANALYSIS COMPUTER PROGRAM THEREFOR
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE OPTIQUE POUR OBSERVER LES CARACTÉRISTIQUES DE POLARISATION D'UNE SEULE PARTICULE ÉLECTROLUMINESCENTE, PROCÉDÉ D'ANALYSE OPTIQUE ET SON PROGRAMME INFORMATIQUE D'ANALYSE OPTIQUE
(JA) 単一発光粒子の偏光特性を観測する光分析装置、光分析方法及びそのための光分析用コンピュータプログラム
Abstract:
(EN) Provided is optical analysis technology for observing the polarisation characteristics of a light-emitting particle by using a scanning molecular counting method employing optical measurement performed with a confocal microscope or a multi-photon microscope. In the optical analysis technology for observing the polarisation characteristics of a light-emitting particle according to the present invention, excitation light comprising predetermined polarisation components is irradiated in an optical detection region of an optical system while the position of the optical detection region is moved within a sample solution due to the optical path of the optical system of a microscope being altered, and also the intensity of at least one polarisation component of light from the optical detection region is detected. Signals of light-emitting particles are individually detected in the intensity of the at least one polarisation component of the detected light, and polarisation characteristic values of the light-emitting particles are thereby calculated based on the intensity of the at least one polarisation component of the detected signals of the light-emitting particles. It is therefore possible to observe the polarisation characteristics of a light-emitting particle having a low concentration or numerical density in a sample solution.
(FR) L'invention concerne une technologie d'analyse optique permettant d'observer les caractéristiques de polarisation d'une particule électroluminescente au moyen d'un procédé de comptage moléculaire par balayage utilisant une mesure optique effectuée par un microscope confocal ou d'un microscope multi-photon. Dans la technologie d'analyse optique de l'invention permettant d'observer les caractéristiques de polarisation d'une particule électroluminescente, une lumière d'excitation comprenant des composants de polarisation prédéterminés rayonne dans une région de détection optique de système optique tandis que la position de la région de détection optique est déplacée à l'intérieur d'une solution d'échantillonnage à cause de la modification du trajet optique de système optique d'un microscope, et l'intensité d'au moins un composant de polarisation de lumière provenant de la région de détection optique est détectée. Les signaux des particules électroluminescentes sont détectés individuellement dans l'intensité du composant de polarisation de la lumière détectée, et les valeurs de caractéristiques de polarisation des particules électroluminescentes sont calculées en fonction de l'intensité du composant de polarisation des signaux détectés des particules électroluminescentes. Il est ainsi possible d'observer les caractéristiques de polarisation d'une particule électroluminescente présentant une faible concentration ou densité numérique dans une solution d'échantillonnage.
(JA) 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡による光計測を用いた走査分子計数法を用いて、発光粒子の偏光特性を観測する光分析技術が提供される。本発明の発光粒子の偏光特性を観測する光分析技術では、顕微鏡の光学系の光路を変更することにより試料溶液内に於いて光学系の光検出領域の位置を移動しながら、光検出領域に予め定められた偏光成分から成る励起光を照射すると共に、光検出領域からの光の少なくとも一つの偏光成分の強度を検出し、検出された光の少なくとも一つの偏光成分の強度に於いて発光粒子の各々の信号を個別に検出して、検出された発光粒子の信号の少なくとも一つの偏光成分の強度に基づいて発光粒子の偏光特性値を算定する。これにより、試料溶液中での濃度又は数密度が低い発光粒子の偏光特性の観測が可能となる。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)