WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2012052900) DIFFERENTIAL PHASE-CONTRAST IMAGING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/052900    International Application No.:    PCT/IB2011/054580
Publication Date: 26.04.2012 International Filing Date: 17.10.2011
IPC:
G01N 23/04 (2006.01), G01N 23/20 (2006.01), G21K 1/06 (2006.01), A61B 6/06 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; High Tech Campus 5 NL-5656 AE Eindhoven (NL) (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH [DE/DE]; Lübeckertordamm 5 20099 Hamburg (DE) (DE only).
RÖSSL, Ewald [AT/DE]; (NL) (For US Only)
Inventors: RÖSSL, Ewald; (NL)
Agent: VAN VELZEN, Maaike; High Tech Campus 44 NL-5600 AE Eindhoven (NL)
Priority Data:
10187975.7 19.10.2010 EP
Title (EN) DIFFERENTIAL PHASE-CONTRAST IMAGING
(FR) IMAGERIE DIFFÉRENTIELLE EN CONTRASTE DE PHASE
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to differential phase-contrast imaging, in particular to a structure of a diffraction grating, e.g. an analyzer grating and a phase grating, for X-ray differential phase-contrast imaging. In order to provide enhanced phase-gradient based image data, a diffraction grating (14, 15) for X-ray differential phase-contrast imaging, is provided with a first sub-area (23) comprising at least one portion (24) of a first grating structure (26) and at least one portion (28) of a second grating structure (30). The first grating structure comprises a plurality of bars (34) and gaps (36) with a first grating orientation GO1 (37), being arranged periodically, wherein the bars are arranged such that they change the phase and/or amplitude of an X-ray radiation and wherein the gaps are X-ray transparent. The second grating structure comprises a plurality of bars (40) and gaps (42) with a second grating orientation GO2 (44), being arranged periodically, wherein the bars are arranged such that they change the phase and/or amplitude of an X-ray radiation and wherein the gaps are X-ray transparent. The first grating orientation GO1 is different than the second grating orientation GO2. Thus, phase-gradient based image information can be acquired for different directions without the necessity to rotate or pivot any of the respective gratings between the acquisition steps, for example.
(FR)Cette invention concerne l'imagerie différentielle en contraste de phase, en particulier, une structure de réseau de diffraction, par exemple, un réseau d'analyseur et un réseau de phase, pour la radiographie X différentielle en contraste de phase. Pour obtenir des données d'images à gradient de phase améliorées, un réseau de diffraction (14, 15) pour la radiographie X différentielle en contraste de phase comporte une première sous-zone (23) comprenant au moins une partie (24) d'une première structure de réseau (26) et au moins une partie (28) d'une seconde structure de réseau (30). La première structure de réseau comprend une pluralité de barres (34) et d'espaces (36) sous une première orientation GO1 (37), agencés périodiquement, les barres étant agencées de manière à modifier la phase et/ou l'amplitude d'un rayonnement X et les espaces étant transparents aux rayons X. La seconde structure de réseau comprend une pluralité de barres (40) et d'espaces (42) sous une seconde orientation GO2 (44), agencés périodiquement, les barres étant agencées de manière à modifier la phase et/ou l'amplitude d'un rayonnement X et les espaces étant transparents aux rayons X. La première orientation de réseau GO1 est différente de la seconde orientation de réseau GO2. Par conséquent, des informations d'images à gradient de phase peuvent être acquises dans des directions différentes sans avoir besoin de faire tourner ou pivoter l'un quelconque des réseaux respectifs entre les étapes d'acquisition, par exemple.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)