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1. (WO2012049538) SYSTEMS AND METHODS FOR IMAGING CHARACTERISTICS OF A SAMPLE AND FOR IDENTIFYING REGIONS OF DAMAGE IN THE SAMPLE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/049538    International Application No.:    PCT/IB2010/055472
Publication Date: 19.04.2012 International Filing Date: 29.11.2010
IPC:
G01N 27/82 (2006.01), G01N 21/88 (2006.01), G01R 33/032 (2006.01)
Applicants: INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY KANPUR [IN/IN]; Kanpur Uttar Pradesh 208016 (IN) (For All Designated States Except US).
BANERJEE, Satyajit [IN/IN]; (IN) (For US Only).
MOHAN, Shyam [IN/IN]; (IN) (For US Only).
SINHA, Jaivardhan [IN/IN]; (IN) (For US Only)
Inventors: BANERJEE, Satyajit; (IN).
MOHAN, Shyam; (IN).
SINHA, Jaivardhan; (IN)
Agent: BHOLA, Ravi; K&S Partners #4121/B, 6th Cross, 19A Main, HAL II Stage [Extension] Bangalore, Karnataka 560 038 (IN)
Priority Data:
2433/DEL/2010 12.10.2010 IN
Title (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR IMAGING CHARACTERISTICS OF A SAMPLE AND FOR IDENTIFYING REGIONS OF DAMAGE IN THE SAMPLE
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR LA CAPTURE D'IMAGES DES CARACTÉRISTIQUES D'UN ÉCHANTILLON ET POUR L'IDENTIFICATION DE RÉGIONS ENDOMMAGÉES DANS L'ÉCHANTILLON
Abstract: front page image
(EN)Systems and methods for imaging characteristics of a sample and for identifying regions of damage in the sample are generally described. Some example systems and methods for non-destructive evaluation of regions of material may operate in a direct current (DC) mode in which the system directly images regions of material where weak structural damage has occurred by imaging a self magnetic field generated by a DC electric current coupled through the material. Some example systems may operate in an alternating current (AC) mode to image regions of material where damage has occurred by generating a time varying magnetic field due to AC excitation coils inducing eddy currents in the sample, and imaging a magnetic field generated by the eddy currents around the regions of damage. The systems may use magneto-optical imaging techniques (MOI) to measure and map the magnetic field and channels of current flow in the material, for example.
(FR)L'invention concerne d'une manière générale des systèmes et des procédés pour la capture d'images d'un échantillon et pour l'identification de régions endommagées dans l'échantillon. Certains exemples de systèmes et de procédés d'évaluation non destructive de régions de matériau peuvent fonctionner dans un mode à courant continu dans lequel le système capture directement des images de régions du matériau où de faibles dommages structurels se sont produits, par capture d'une image d'un champ magnétique propre produit par un courant électrique continu couplé au matériau. Certains exemples de systèmes peuvent fonctionner dans un mode à courant alternatif afin de capturer des images de régions du matériau où un dommage s'est produit, par production d'un champ magnétique variant dans le temps à l'aide de bobines d'excitation à courant alternatif induisant des courants de Foucault dans l'échantillon et par capture d'images d'un champ magnétique produit par les courants de Foucault autour de la région endommagée. Les systèmes peuvent utiliser des techniques d'imagerie magnéto-optique pour mesurer et tracer le champ magnétique et des canaux de circulation du courant dans le matériau, par exemple.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)