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1. (WO2012049004) IMPROVED SPECT METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/049004    International Application No.:    PCT/EP2011/066560
Publication Date: 19.04.2012 International Filing Date: 23.09.2011
IPC:
G01T 1/24 (2006.01), G01T 1/29 (2006.01), H05H 5/06 (2006.01)
Applicants: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
HEID, Oliver [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: HEID, Oliver; (DE)
Common
Representative:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34 80506 München (DE)
Priority Data:
10 2010 042 517.6 15.10.2010 DE
Title (DE) VERBESSERTES SPECT-VERFAHREN
(EN) IMPROVED SPECT METHOD
(FR) PROCÉDÉ SPECT AMÉLIORÉ
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft das unter der Bezeichnung "SPECT" bekannte Bildgebungsverfahren. Die für eine SPECT-Untersuchung benötigten Radioisotope müssen heutzutage zentral in wenigen, weltweit zentralisierten Instituten hergestellt werden. Aufgrund der Transportdauer vom Herstellort zum Ort der SPECT-Untersuchung muss das ausgewählte Isotop eine vergleichsweise langsame Zerfallsrate aufweisen, damit es zum Zeitpunkt der SPECT-Untersuchung noch eine ausreichende Aktivität aufweist. Erfindungsgemäß wird die Verwendung eines ONIAC- Teilchenbeschleunigers zur Herstellung der Radioisotope vorgeschlagen, da dieser Beschleuniger prinzipbedingt eine sehr geringe Baugröße aufweist. Es ist somit möglich, den Beschleuniger vor Ort des SPECT-Scanners, d.h. bspw. im selben Gebäude, zu installieren und Radioisotope vor Ort herzustellen, so dass diese aufgrund der nunmehr unwesentlichen Transportdauer eine hohe Zerfallsrate aufweisen können. Dementsprechend kann die Bildqualität der SPECT-Untersuchung wesentlich verbessert werden.
(EN)The invention relates to the imaging method known by the name of "SPECT." These days, the radioisotopes required for a SPECT examination must be produced centrally in a few centralized institutes around the world. Due to the duration of transport from the production location to the location of the SPECT examination, the selected isotope must comprise a relatively slow decay rate, so that said isotope still comprises sufficient activity at the time of the SPECT examination. According to the invention, an ONIAC particle accelerator for producing the radioisotope is used, because said accelerator has a very small size due to the principle thereof. It is thus possible to install the accelerator at the site of the SPECT scanner, that is, for example, in the same building, and to produce radioisotopes on site, and therefore said radioisotopes can comprise a high decay rate due to the now insignificant duration of transport. The image quality of the SPECT examination can be substantially improved accordingly.
(FR)L'invention concerne le procédé d'imagerie appelé SPECT (tomographie d'émission monophotonique). Les radioisotopes nécessaires à un examen SPECT doivent aujourd'hui être fabriqués de façon centrale dans un nombre réduit d'instituts centralisés à l'échelle mondiale. En raison de la durée de transport du site de fabrication au site de l'examen SPECT, l'isotope choisi doit présenter un taux de désintégration relativement faible de manière à posséder encore une activité suffisante à l'instant de l'examen SPECT. L'invention propose l'utilisation d'un accélérateur de particules ONIAC pour la fabrication des radioisotopes du fait que cet accélérateur présente par principe un très faible encombrement. Il est par conséquent possible d'installer l'accélérateur sur le site du scanneur SPECT, c'est à dire par exemple dans le même bâtiment, et de fabriquer les radioisotopes sur place de telle manière que ceux-ci peuvent présenter un taux de désintégration élevé en raison de la durée de transport négligeable. La qualité d'image de l'examen SPECT peut par conséquent être améliorée considérablement.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)