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1. (WO2012043535) LEAK INSPECTION DEVICE AND LEAK INSPECTION METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/043535    International Application No.:    PCT/JP2011/072019
Publication Date: 05.04.2012 International Filing Date: 27.09.2011
IPC:
G01M 3/26 (2006.01)
Applicants: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 1, Toyota-cho, Toyota-shi, Aichi 4718571 (JP) (For All Designated States Except US).
YAMAGUCHI Tetsuya [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: YAMAGUCHI Tetsuya; (JP)
Agent: YANO Juichiro; YANO INTERNATIONAL PATENT OFFICE, Twin 21 MID Tower 34th Floor, 1-61, Shiromi 2-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5406134 (JP)
Priority Data:
2010-220951 30.09.2010 JP
Title (EN) LEAK INSPECTION DEVICE AND LEAK INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE FUITES
(JA) リーク検査装置およびリーク検査方法
Abstract: front page image
(EN)A leak inspection device for inspecting leaks from a workpiece (W) by sealing a gas inside the workpiece or sucking the gas therefrom includes: a depressurizing device that reduces the pressure of the gas inside the workpiece; a pressurizing device that pressurizes the gas inside the workpiece; a temperature sensor that detects the temperature of the workpiece; a pressure sensor that detects the pressure of the gas inside the workpiece; and a controller. The controller calculates the saturation water vapor pressure at the same temperature as the temperature of the workpiece, controls the depressurizing device to thereby reduce the pressure of the gas inside the workpiece to the saturation water vapor pressure, sucks the water vapor that has vaporized inside the workpiece, controls the pressurizing device to thereby seal the gas inside the workpiece and pressurize the gas inside the workpiece until the temperature (To) of the workpiece detected by the temperature sensor reaches a predetermined temperature (T1). With this construction, it is possible to eliminate changes in workpiece temperature and residual water inside the workpiece, which become the causes of disturbance during leak inspection.
(FR)L'invention concerne un dispositif d'inspection de fuites servant à inspecter les fuites provenant d'une pièce à travailler (W), qui consiste à sceller un gaz à l'intérieur de la pièce à travailler ou à aspirer le gaz de celle-ci. Ce dispositif comprend : un dispositif de décompression, qui réduit la pression du gaz se situant à l'intérieur de la pièce à travailler; un dispositif de mise sous pression, qui met sous pression le gaz se situant à l'intérieur de la pièce à travailler; un capteur de température, qui détecte la température de la pièce à travailler; un capteur de pression, qui détecte la pression du gaz se situant à l'intérieur de la pièce à travailler; et un organe de commande. L'organe de commande calcule la pression de vapeur d'eau de saturation à la même température que celle de la pièce à travailler, règle le dispositif de décompression afin de réduire la pression du gaz à l'intérieur de la pièce à travailler à la valeur de pression de vapeur d'eau de saturation, aspire la vapeur d'eau ayant été vaporisée à l'intérieur de la pièce à travailler, commande le dispositif de mise sous pression afin de sceller le gaz à l'intérieur de la pièce à travailler et de mettre sous pression le gaz à l'intérieur de la pièce à travailler jusqu'à ce que la température (To) de la pièce à travailler, détectée par le capteur de température, atteigne une température (T1) prédéterminée. Cette construction permet d'éliminer les changements de la température de la pièce à travailler ainsi que l'eau résiduelle à l'intérieur de celle-ci, qui perturbent l'inspection de fuites.
(JA) リーク検査装置は、ワークWの内部に気体を封入または吸引してワークからの漏れを検査するものであり、ワーク内部の気体を減圧する減圧装置と、ワーク内部の気体を加圧する加圧装置と、ワークの温度を検出する温度センサと、ワーク内部の気体の圧力を検出する圧力センサと、コントローラとを具備する。コントローラは、ワークの温度と同じ温度の飽和水蒸気圧を算出し、さらに、減圧装置を制御することによって、前記ワーク内部の気体を飽和水蒸気圧まで減圧し、ワーク内部の気化した水蒸気を吸引し、加圧装置を制御することによって、ワーク内部に気体を封入し、温度センサによって検出されるワークの温度Toが所定温度T1になるまでワーク内部の気体を加圧する。このような構成により、リーク検査を実施する際の外乱要因となるワークの温度変化およびワーク内部の水残りを除去できる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)