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1. (WO2012043366) ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, AND DISPLAY DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/043366    International Application No.:    PCT/JP2011/071586
Publication Date: 05.04.2012 International Filing Date: 22.09.2011
IPC:
G02F 1/1368 (2006.01), G02F 1/1345 (2006.01), G09F 9/30 (2006.01)
Applicants: SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka 5458522 (JP) (For All Designated States Except US).
TAJIMA, Yoshimitsu; (For US Only)
Inventors: TAJIMA, Yoshimitsu;
Agent: SHIMADA, Akihiro; Shimada Patent Firm, Manseian Building, 1-10-3, Yagi-cho, Kashihara-shi, Nara 6340078 (JP)
Priority Data:
2010-218264 29.09.2010 JP
Title (EN) ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, AND DISPLAY DEVICE
(FR) SUBSTRAT DE MATRICE ACTIVE, ET DISPOSITIF D'AFFICHAGE
(JA) アクティブマトリクス基板および表示装置
Abstract: front page image
(EN)A connection-switching circuit (10), which contains non-linear elements (11-13) and switch elements (14, 15), is provided between protection wiring (5) and an external terminal (4) in a substrate. When voltage is not being applied to a switch-control wire (SC), the switch elements (14, 15) are ON, and the non-linear elements (11-13) are connected in parallel. By applying a low-level voltage to the switch-control wire (SC), the switch elements (14, 15) turn OFF, and the non-linear elements (11-13) can be switched so as to be connected in series. Therefore, when connected in parallel, current flows easily and electrostatic discharge failure of the substrate is prevented; and when connected in series, current does not flow easily, an independent signal is inputted to the external terminal (4), and electrical inspection can be carried out on the substrate. Thus, an active matrix substrate is provided with can be easily manufactured, and on which electrical inspection can be carried out, even when provided with protection wiring.
(FR)Selon l'invention, un circuit de commutation de connexion (10), qui contient des éléments non linéaires (11-13) et des éléments interrupteurs (14, 15), est placé entre un câblage de protection (5) et une borne externe (4) dans un substrat. Lorsqu'aucune tension n'est appliquée à un fil de commande d'interrupteur (SC), les éléments interrupteurs (14, 15) sont débloqués, et les éléments non linéaires (11-13) sont connectés en parallèle. Par application d'une tension de niveau bas au fil de commande d'interrupteur (SC), les éléments interrupteurs (14, 15) se bloquent, et les éléments non linéaires (11-13) peuvent être commutés de manière à être connectés en série. En conséquence, lorsqu'ils sont connectés en parallèle, un courant circule facilement et un endommagement par décharge électrostatique du substrat est empêché ; et lorsqu'ils sont connectés en série, un courant ne circule pas facilement, un signal indépendant est appliqué à la borne externe (4), et une inspection électrique peut être réalisée sur le substrat. Ainsi, un substrat de matrice active est obtenu qui peut être facilement fabriqué, et sur lequel une inspection électrique peut être réalisée, même lorsqu'il est muni d'un câblage de protection.
(JA) 基板の外部端子4と保護配線5の間に、非線形素子11~13とスイッチ素子14、15を含む接続切り替え回路10を設ける。スイッチ制御線SCに電圧が印加されていないときには、スイッチ素子14、15はオン状態となり、非線形素子11~13は並列接続される。スイッチ制御線SCにローレベル電圧を印加することで、スイッチ素子14、15はオフ状態となり、非線形素子11~13は直列接続に切り替えられる。したがって、並列接続時には電流を流れやすくして基板の静電気破壊を防止し、直列接続時には電流を流れにくくして、外部端子4に独立した信号を入力し基板の電気的検査を行うことができる。これにより、容易に製造でき、保護配線を有する状態でも電気的検査可能なアクティブマトリクス基板を提供する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)