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1. (WO2012041348) PRODUCTION METHOD FOR AN INTERFACE UNIT AND A GROUP OF SUCH INTERFACE UNITS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2012/041348    International Application No.:    PCT/EP2010/005973
Publication Date: 05.04.2012 International Filing Date: 30.09.2010
IPC:
A61F 9/009 (2006.01), G02B 27/62 (2006.01)
Applicants: WAVELIGHT GMBH [DE/DE]; Am Wolfsmantel 5 91058 Erlangen (DE) (For All Designated States Except US).
GORSCHBOTH, Claudia [DE/DE]; (DE) (For US Only).
LI, Jing [CN/DE]; (DE) (For US Only).
VOGLER, Klaus [DE/DE]; (DE) (For US Only).
KITTELMANN, Olaf [DE/DE]; (DE) (For US Only).
DEISINGER, Thomas [DE/DE]; (DE) (For US Only).
ROBL, Gerhard [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: GORSCHBOTH, Claudia; (DE).
LI, Jing; (DE).
VOGLER, Klaus; (DE).
KITTELMANN, Olaf; (DE).
DEISINGER, Thomas; (DE).
ROBL, Gerhard; (DE)
Agent: KATÉRLE, Axel; Wuesthoff & Wuesthoff Schweigerstrasse 2 81541 München (DE)
Priority Data:
Title (DE) HERSTELLUNGSVERFAHREN FÜR EINE SCHNITTSTELLENEINHEIT UND EINE GRUPPE SOLCHER SCHNITTSTELLENEINHEITEN
(EN) PRODUCTION METHOD FOR AN INTERFACE UNIT AND A GROUP OF SUCH INTERFACE UNITS
(FR) PROCÉDÉ DE PRODUCTION D'UNE UNITÉ INTERFACE ET GROUPE DE TELLES UNITÉS INTERFACES
Abstract: front page image
(DE)Ein Verfahren zur Herstellung einer Schnittstelleneinheit (14) sowie eine Gruppe solcher Schnittstelleneinheiten werden angegeben. Die Schnittstelleneinheit weist eine erste Referenzfläche (35) zum Einstrahlen von Strahlung (28), eine zweite Referenzfläche (42) zur Abgabe der Strahlung und eine in Richtung von der ersten zur zweiten Referenzfläche verlaufende Achse (47) auf. Das Herstellungsverfahren umfasst die Schritte des Einstellens einer optischen Weglänge der Schnittstelleneinheit zwischen der ersten und der zweiten Referenzfläche entlang der Achse und das Fixieren der eingestellten optischen Weglänge der Schnittstelleneinheit. Die optische Weglänge der Schnittstelleneinheit wird so eingestellt, dass an der ersten Referenzfläche eingestrahlte Strahlung einer bestimmten numerischen Apertur (NA) eine bezüglich der zweiten Referenzfläche in Richtung der Achse vorgegebene Fokuslage (44) aufweist. Eine präzise und einheitliche Fokuslage bezüglich der zweiten Referenzfläche wird erreicht.
(EN)The invention relates to a method for producing an interface unit (14) and to a group of such interface units. The interface unit (14) comprises a first reference surface (35) for capturing radiation (28), a second reference surface (42) for emitting radiation and an axis (47) extending in the direction from the first to the second reference surface. The production method comprises the following steps: setting an optical path length of the interface unit between the first and the second reference surfaces along the axis and fixing the set optical path length of the interface unit. The optical path length of the interface unit is set in such a manner that the radiation of a specific numerical aperture (NA), which is directed on the first reference surface, has a focus position (44) which is predefined relative to the second reference surface in the direction of the axis. In this way, a precise and uniform focus position relative to the second reference surface is achieved.
(FR)L'invention concerne un procédé de production d'une unité interface (14) et un groupe de telles unités interfaces. L'unité interface présente une première surface de référence (35) destinée à l'introduction d'un rayonnement (28), une deuxième surface de référence (42) destinée à la sortie du rayonnement, et un axe (47) s'étendant dans la direction de la première vers la deuxième surface de référence. Le procédé de production comprend les étapes consistant à régler une longueur d'onde optique de l'unité interface entre la première et la deuxième surface de référence le long de l'axe et à fixer la longueur d'onde optique réglée de l'unité interface. La longueur d'onde optique de l'unité interface est réglée de telle façon que le rayonnement d'une certaine ouverture numérique (NA), qui est introduit dans la première surface de référence, présente une position de point focal (44) prédéfinie par rapport à la deuxième surface de référence dans la direction de l'axe. Cela permet d'obtenir une position de point focal précise et univoque par rapport à la deuxième surface de référence.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)