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1. WO2012032950 - X-RAY DIFFERENTIAL PHASE CONTRAST IMAGING USING A TWO-DIMENSIONAL SOURCE GRATING WITH PINHOLE APERTURES AND TWO-DIMENSIONAL PHASE AND ABSORPTION GRATINGS

Publication Number WO/2012/032950
Publication Date 15.03.2012
International Application No. PCT/JP2011/069368
International Filing Date 23.08.2011
IPC
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23
Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by group G01N21/ or G01N22/159
02
by transmitting the radiation through the material
04
and forming a picture
G01N 23/04 (2006.01)
CPC
A61B 6/4291
A61B 6/484
G01N 2223/064
G01N 2223/1016
G01N 23/04
Applicants
  • CANON KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 30-2, Shimomaruko 3-chome, Ohta-ku, Tokyo 1468501, JP (AllExceptUS)
  • NAGAI, Kentaro [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventors
  • NAGAI, Kentaro; JP
Agents
  • ABE, Takuma; C/O CANON KABUSHIKI KAISHA, 30-2, Shimomaruko 3-chome, Ohta-ku, Tokyo 1468501, JP
Priority Data
2010-20106508.09.2010JP
Publication Language English (EN)
Filing Language English (EN)
Designated States
Title
(EN) X-RAY DIFFERENTIAL PHASE CONTRAST IMAGING USING A TWO-DIMENSIONAL SOURCE GRATING WITH PINHOLE APERTURES AND TWO-DIMENSIONAL PHASE AND ABSORPTION GRATINGS
(FR) IMAGERIE PAR CONTRASTE DE PHASE DIFFÉRENTIEL À RAYONS X UTILISANT UN RÉSEAU SOURCE BIDIMENSIONNEL AVEC DES OUVERTURES EN TROU D'ÉPINGLE AINSI QUE DES RÉSEAUX DE PHASE ET D'ABSORPTION BIDIMENSIONNELS
Abstract
(EN)
An x-ray differential phase contrast imaging apparatus includes an x-ray source, a source grating, a diffraction grating diffracting x-rays from the x-ray source and source grating and a detector detecting x-rays from the diffraction grating, wherein the source grating includes first x-ray transmissive apertures transmitting x-rays to thereby form a first interference pattern by being diffracted at the diffraction grating, and second x-ray transmissive apertures transmitting x-rays to thereby form a second interference pattern by being diffracted at the diffraction grating, wherein the first and second x-ray transmissive apertures are pinhole apertures which are disposed so that at least part of the first and second interference pattern overlap and the positions of x-ray regions in the first interference pattern differ from the positions of x-ray regions in the second interference pattern, and wherein a combined pattern is formed by the first interference pattern and the second interference pattern.
(FR)
L'invention concerne un appareil d'imagerie par contraste de phase différentiel à rayons X comprenant une source de rayons X, un réseau source, un réseau de diffraction qui diffracte les rayons X en provenance de la source de rayons X et du réseau source et un détecteur qui détecte les rayons X en provenance du réseau de diffraction. Selon l'invention, le réseau source comprend des premières ouvertures de transmission des rayons X qui transmettent les rayons X pour former ainsi un premier motif d'interférence en étant diffractés au niveau du réseau de diffraction et des deuxièmes ouvertures de transmission des rayons X qui transmettent les rayons X pour former ainsi un deuxième motif d'interférence en étant diffractés au niveau du réseau de diffraction. Toujours selon l'invention, la première et la deuxième ouverture de transmission des rayons X sont des ouvertures en trou d'épingle qui sont disposées de telle sorte qu'au moins une partie du premier et du deuxième motif d'interférence se chevauchent et les positions des régions des rayons X dans le premier motif d'interférence diffèrent des positions des régions des rayons X dans le deuxième motif d'interférence. Selon l'invention, un motif combiné est formé par le premier motif d'interférence et le deuxième motif d'interférence.
Also published as
Latest bibliographic data on file with the International Bureau