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1. (WO2011161499) DETECTION OF MAGNETIC PARTICLES AND THEIR CLUSTERING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/161499    International Application No.:    PCT/IB2010/055495
Publication Date: 29.12.2011 International Filing Date: 30.11.2010
IPC:
H01F 1/00 (2006.01), H01F 1/44 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven (NL) (For All Designated States Except US).
VAN ZON, Joannes Baptist Adrianus Dionisius [NL/NL]; (NL) (For US Only).
OVSYANKO, Mikhail Mikhaylovich [NL/NL]; (NL) (For US Only).
EVERS, Toon Hendrik [NL/NL]; (NL) (For US Only).
SIJBERS, Mara Johanna Jacoba [NL/NL]; (NL) (For US Only)
Inventors: VAN ZON, Joannes Baptist Adrianus Dionisius; (NL).
OVSYANKO, Mikhail Mikhaylovich; (NL).
EVERS, Toon Hendrik; (NL).
SIJBERS, Mara Johanna Jacoba; (NL)
Agent: VAN VELZEN, Maaike; High Tech Campus 44 NL-5600 AE Eindhoven (NL)
Priority Data:
10166839.0 22.06.2010 EP
Title (EN) DETECTION OF MAGNETIC PARTICLES AND THEIR CLUSTERING
(FR) DÉTECTION DE PARTICULES MAGNÉTIQUES ET DE LEUR REGROUPEMENT
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to a method and associated apparatuses (100) for the detection of magnetic particles (MP) in a sample chamber (111). The method comprises the determination of a "particle-parameter" that is related to the amount of magnetic particles (MP) in a first detection region (P, C), the determination of a "cluster-parameter" that is related to the degree of clustering of magnetic particles (MP) in a second detection region (P, C), and the evaluation of the particle-parameter based on the cluster-parameter. Various apparatuses are disclosed that can be applied in said method. In one apparatus (100), a magnetic field (B) is generated in the sample chamber (111) in such a way that it has different inclinations in a first and second field region (P, C) and/or that it is oblique to the binding surface (112) in at least one field region. Magnetic particles (MP) are then detected in said first and second field region and/or in said at least one field region before and after a permanent switch-off of the inclined magnetic field. The resulting detection signals are related to each other to determine a cluster-parameter. In other embodiments, a cluster- parameter may be determined from light transmission measurements during the application of a magnetic field that is switched on and off.
(FR)L'invention concerne un procédé et des appareils associés (100) pour la détection de particules magnétiques (MP) dans une chambre (111) à échantillon. Le procédé comporte : la détermination d'un "paramètre de particules" qui est lié à la quantité de particules magnétiques (MP) dans une première région (P, C) de détection ; la détermination d'un "paramètre de regroupement" qui est lié au degré de regroupement de particules magnétiques (MP) dans une deuxième région (P, C) de détection ; et l'évaluation du paramètre de particules sur la base du paramètre de regroupement. Divers appareils susceptibles d'être appliqués dans ledit procédé sont décrits. Dans un appareil (100), un champ magnétique (B) est généré dans la chambre (111) à échantillon de telle sorte qu'il présente des inclinaisons différentes dans une première et une deuxième région (P, C) de champ et / ou qu'il soit oblique par rapport à la surface (112) de confinement dans au moins une région de champ. Des particules magnétiques (MP) sont alors détectées dans lesdites première et deuxième régions de champ et / ou dans ladite ou lesdites régions de champ, avant et après une coupure permanente du champ magnétique incliné. Les signaux de détection résultants sont reliés entre eux pour déterminer un paramètre de regroupement. Dans d'autres modes de réalisation, un paramètre de regroupement peut être déterminé à partir de mesures de transmission de la lumière pendant l'application d'un champ magnétique qui est activé et désactivé.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)