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1. (WO2011158810) DEFECT OCCURRENCE SOURCE IDENTIFICATION METHOD AND CONVEYING DEVICE MAINTENANCE METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/158810    International Application No.:    PCT/JP2011/063541
Publication Date: 22.12.2011 International Filing Date: 13.06.2011
IPC:
G01N 21/88 (2006.01), C03B 35/16 (2006.01), G01N 21/892 (2006.01)
Applicants: Asahi Glass Company, Limited. [JP/JP]; 5-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008405 (JP) (For All Designated States Except US).
SHIOYA Toshikazu [JP/JP]; (JP) (For US Only).
MURATA Mitsuru [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TAKATANI Kenichi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TAKIGUCHI Tetsushi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
INOUE Shunji [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: SHIOYA Toshikazu; (JP).
MURATA Mitsuru; (JP).
TAKATANI Kenichi; (JP).
TAKIGUCHI Tetsushi; (JP).
INOUE Shunji; (JP)
Agent: OGURI Shohei; Eikoh Patent Firm, Toranomon East Bldg. 10F, 7-13, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050003 (JP)
Priority Data:
2010-138641 17.06.2010 JP
Title (EN) DEFECT OCCURRENCE SOURCE IDENTIFICATION METHOD AND CONVEYING DEVICE MAINTENANCE METHOD
(FR) PROCÉDÉ D'IDENTIFICATION DE SOURCE D'APPARITION DE DÉFAUTS ET PROCÉDÉ DE MAINTENANCE DE DISPOSITIF DE TRANSPORT.
(JA) 欠陥発生源の特定方法および搬送装置の保守方法
Abstract: front page image
(EN)Disclosed is a defect occurrence source identification method wherein when sheet-like glass is being conveyed by a plurality of rolls in a slow-cooling device provided with a conveying device comprising the plurality of rolls, identification is made of a roll which causes defects to occur at a certain interval in the conveying direction of the sheet-like glass. This defect occurrence source identification method is such that the circumferential speed of some of the plurality of rolls is changed, resulting in the circumferential speed being different from the conveying speed of the sheet-like glass; and that the roll constituting the occurrence source of the defects is identified, depending on whether or not the interval of the defects after the change in the circumferential speed, has undergone a change, as compared to the interval of the defects before the change in the circumferential speed.
(FR)L'invention porte sur un procédé d'identification de source d'apparition de défauts, dans lequel procédé, lorsque du verre en feuilles est transporté par une pluralité de rouleaux dans un dispositif à refroidissement lent comportant un dispositif de transport comprenant la pluralité de rouleaux, il est effectué l'identification d'un rouleau qui provoque l'apparition de défauts à un certain intervalle dans la direction de transport du verre en feuilles. Le procédé d'identification de source d'apparition de défauts est tel que la vitesse circonférentielle de certains de la pluralité de rouleaux est changée, ce qui produit en résultat une vitesse circonférentielle qui est différente de la vitesse de transport du verre en feuilles ; et que le rouleau constituant la source d'apparition des défauts est identifié, en fonction du fait que l'intervalle des défauts après le changement de la vitesse circonférentielle a ou non subi un changement, par rapport à l'intervalle des défauts avant le changement de la vitesse circonférentielle.
(JA) 本発明は、複数のロールを有する搬送装置を備えた徐冷装置においてシート状ガラスが前記複数のロールによって搬送される際に、該シート状ガラスの搬送方向に一定の間隔で欠陥を生じさせるロールを特定する欠陥発生源の特定方法であって、前記複数のロールのうち一部のロールの周速度を変更して、前記シート状ガラスの搬送速度と異ならしめ、前記周速度の変更の前後における前記欠陥の間隔の変化の有無に応じて、前記欠陥発生源となっているロールを特定する欠陥発生源の特定方法に関する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)