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1. (WO2011155179) ANALYSIS ELEMENT CHIP
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/155179    International Application No.:    PCT/JP2011/003191
Publication Date: 15.12.2011 International Filing Date: 07.06.2011
IPC:
G01N 21/27 (2006.01), G01N 21/64 (2006.01)
Applicants: KONICA MINOLTA HOLDINGS, INC. [JP/JP]; 1-6-1, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1000005 (JP) (For All Designated States Except US).
YANAGIHARA, Gou [JP/JP]; (JP) (For US Only).
MIYATA, Kenichi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
MIYAURA, Tomoko [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: YANAGIHARA, Gou; (JP).
MIYATA, Kenichi; (JP).
MIYAURA, Tomoko; (JP)
Agent: KOTANI, Etsuji; Osaka Nakanoshima Building 2nd Floor, 2-2, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
Priority Data:
2010-132772 10.06.2010 JP
Title (EN) ANALYSIS ELEMENT CHIP
(FR) PUCE ÉLÉMENTAIRE D'ANALYSE
(JA) 分析素子チップ
Abstract: front page image
(EN)Disclosed is an analysis element chip (10) which is used for surface plasmon resonance analysis devices or surface plasmon resonance fluorescence analysis devices, and which is provided with a prism (11), a metal thin film (15) formed on the surface of a predetermined side (13) of the prism (11) and having a surface (15a) to which a physiologically active substance (16) is affixed, and a flow path member (20) for forming a flow path (21) through which a sample flows while the sample is in contact with the metal thin film (15), wherein the metal thin film (15) attaches to the predetermined side (13) at an attachment strength in which the critical peeling limit value is 60 mN or more or at an attachment strength in which the metal thin film (15) does not peel off from the predetermined side (13) in a predetermined tape peeling test.
(FR)La présente invention concerne une puce élémentaire d'analyse (10) utilisée pour des dispositifs d'analyse par résonance plasmonique de surface ou des dispositifs d'analyse en fluorescence couplée à la résonance plasmonique de surface, et qui est dotée d'un prisme (11), d'une couche mince métallique (15) formée à la surface d'un côté prédéterminé (13) du prisme (11) et ayant une surface (15a) sur laquelle une substance physiologiquement active (16) est fixée, et un élément de voie de passage (20) pour former une voie de passage (21) à travers laquelle un échantillon circule lorsque l'échantillon est en contact avec la couche mince métallique (15), la couche mince métallique (15) étant fixée au côté prédéterminé (13) à une force de fixation à laquelle la limite de détachement critique est de 60 mN ou plus ou à une force de fixation à laquelle la couche mince métallique (15) ne se détache pas du côté prédéterminé (13) dans un essai au ruban adhésif prédéterminé.
(JA) 本発明は、表面プラズモン共鳴分析装置又は表面プラズモン共鳴蛍光分析装置に用いられる分析素子チップ10であって、プリズム11と、プリズム11の所定の面13の面上に形成され、その表面15aに生理活性物質16が固定される金属薄膜15と、検体が金属薄膜15と接しつつ流れる流路21を形成する流路部材20とを備え、金属薄膜15は、所定の面13に臨界剥離限界値が60mN以上の付着強度で付着している、又は所定のテープ剥離試験において所定の面13から剥離しない付着強度で付着している。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)