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1. (WO2011153500) SYSTEM AND METHOD TO DETERMINE SLIDE QUALITY OF A DIGITIZED MICROSCOPE SLIDE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/153500    International Application No.:    PCT/US2011/039173
Publication Date: 08.12.2011 International Filing Date: 03.06.2011
IPC:
G06T 1/00 (2006.01), G01N 33/483 (2006.01), G01N 21/00 (2006.01), G06T 7/00 (2006.01), H04N 7/26 (2006.01)
Applicants: APERIO TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 1360 Park Center Drive Vista, California 92081 (US) (For All Designated States Except US).
EICHHORN, Ole [US/US]; (US) (For US Only).
PERZ, Cindy [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: EICHHORN, Ole; (US).
PERZ, Cindy; (US)
Agent: RAWLINS, Pattric J.; Procopio, Cory, Hargreaves & Savitch LLP 525 B Street, Suite 2200 San Diego, California 92101 (US)
Priority Data:
61/396,971 04.06.2010 US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD TO DETERMINE SLIDE QUALITY OF A DIGITIZED MICROSCOPE SLIDE
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE LA QUALITÉ DE LAME D'UNE LAME DE MICROSCOPE NUMÉRISÉE
Abstract: front page image
(EN)A system that determines the quality of a digital microscope slide by analyzing digital slide images based on complexity and spatial frequencies. An example embodiment detailed in the application may provide visual feedback on the whole slide quality by overlaying the image with a color coded "heat map" of local area quality. A user provided with the overlap image may obtain both an absolute quality measurement for the whole image and quickly identity the quality variability within the slide.
(FR)La présente invention se rapporte à un système qui détermine la qualité d'une lame de microscope numérique grâce à l'analyse d'images de lame numériques sur la base de la complexité et de fréquences spatiales. Un exemple de mode de réalisation détaillé dans la demande peut offrir un retour visuel sur la qualité de l'ensemble de la lame en recouvrant l'image à l'aide d'une « carte thermique » chromocodée de qualité locale. Un utilisateur ayant reçu l'image recouverte peut obtenir à la fois une mesure de qualité absolue pour l'ensemble de l'image et rapidement identifier la variabilité de qualité dans la lame.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)