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1. (WO2011153126) REGISTRATION OF AN EXTENDED REFERENCE FOR PARAMETER MEASUREMENT IN AN OPTICAL SENSING SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/153126    International Application No.:    PCT/US2011/038512
Publication Date: 08.12.2011 International Filing Date: 31.05.2011
IPC:
G01B 9/02 (2006.01), G01N 21/47 (2006.01)
Applicants: LUNA INNOVATIONS INCORPORATED [US/US]; 1 Riverside Circle, Suite 400 Roanoke, VA 24016 (US) (For All Designated States Except US).
FROGGATT, Mark, E. [GB/US]; (US) (For US Only).
KLEIN, Justin, W. [US/US]; (US) (For US Only).
GIFFORD, Dawn, K. [US/US]; (US) (For US Only).
REAVES, Matthew [US/US]; (US) (For US Only).
BOS, Joseph, J. [US/US]; (US) (For US Only).
SANG, Alexander, K. [KE/US]; (US) (For US Only)
Inventors: FROGGATT, Mark, E.; (US).
KLEIN, Justin, W.; (US).
GIFFORD, Dawn, K.; (US).
REAVES, Matthew; (US).
BOS, Joseph, J.; (US).
SANG, Alexander, K.; (US)
Agent: LASTOVA, John, R.; Nixon & Vanderhye P.C. 901 North Glebe Road, 11th Floor Arlington, VA 22203-1808 (US)
Priority Data:
61/434,175 19.01.2011 US
61/350,343 01.06.2010 US
Title (EN) REGISTRATION OF AN EXTENDED REFERENCE FOR PARAMETER MEASUREMENT IN AN OPTICAL SENSING SYSTEM
(FR) CONCORDANCE D'UNE RÉFÉRENCE ÉTENDUE POUR MESURE DE PARAMÈTRES DANS UN SYSTÈME DE DÉTECTION OPTIQUE
Abstract: front page image
(EN)An interferometric measurement system measures a parameter using at least one optical waveguide. A memory stores reference interferometric pattern data associated with a segment of the optical waveguide. Interferometric detection circuitry detects and stores measurement interferometric pattern data associated with the segment of the optical waveguide during a measurement operation. A spectral range of the reference interferometric pattern of the optical waveguide is greater than a spectral range of the measurement interferometric pattern of the optical waveguide. A processor shifts one or both of the measurement interferometric pattern data and the reference interferometric pattern data relative to the other to obtain a match and to use the match to measure the parameter. An example parameter is strain.
(FR)L'invention concerne un système de mesure interférométrique qui permet de mesurer un paramètre au moyen d'au moins un guide d'ondes optiques. Une mémoire enregistre des données de diagramme interférométrique de référence associées à un segment du guide d'ondes optiques. Des circuits de détection interférométrique détectent et enregistrent des données de diagramme interférométrique de mesure associées au segment du guide d'ondes optiques au cours d'une mesure. Une plage spectrale de diagramme interférométrique de référence du guide d'ondes optiques est supérieure à une plage spectrale du diagramme interférométrique de mesure du guide d'ondes optiques. Un processeur décale soit les données de diagramme interférométrique de mesure, soit les données de diagramme interférométrique de référence, ou les deux, les unes par rapport aux autres, pour obtenir une concordance et pour utiliser cette concordance afin de mesurer le paramètre. Une déformation est un exemple de paramètre.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)