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1. (WO2011153018) INTERFEROMETRIC MEASUREMENT WITH CROSSTALK SUPPRESSION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/153018    International Application No.:    PCT/US2011/037518
Publication Date: 08.12.2011 International Filing Date: 23.05.2011
IPC:
G01B 9/02 (2006.01), G01N 21/45 (2006.01)
Applicants: LUNA INNOVATIONS INCORPORATED [US/US]; 1 Riverside Circle, Suite 400 Roanoke, VA 24016 (US) (For All Designated States Except US).
FROGGATT, Mark, E. [US/US]; (US) (For US Only).
KLEIN, Justin, W. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: FROGGATT, Mark, E.; (US).
KLEIN, Justin, W.; (US)
Agent: LASTOVA, John, R.; Nixon & Vanderhye P.C. 901 North Glebe Road, 11th Floor Arlington, VA 22203-1808 (US)
Priority Data:
61/350,343 01.06.2010 US
Title (EN) INTERFEROMETRIC MEASUREMENT WITH CROSSTALK SUPPRESSION
(FR) MESURE INTERFÉROMÉTRIQUE AVEC SUPPRESSION DE LA DIAPHONIE
Abstract: front page image
(EN)An interferometric measurement system suppresses cross talk between optical waveguides used to measure one or more parameters. A first interferometric measurement channel coupled to a first waveguide, and a second interferometric measurement channel coupled to a second waveguide. At least one of the channels includes a reference light path in addition to the first and second waveguides. A reference path optical delay is associated with the reference light path, a first optical delay is associated with the input portion of at least one of the first and second interferometric measurement channels, and a second, optical delay is associated with an output portion of the one interferometric measurement channel. A value of the first optical delay and a value the second optical delay are chosen to suppress crosstalk associated with the other of the first and second interferometric measurement channels in the one interferometric measurement channel over a predetermined length of the first waveguide. Signals corresponding to the reference light path and the first and second interferometric measurement channels are processed to measure one or more parameters.
(FR)L'invention concerne un système de mesure interférométrique qui permet de supprimer la diaphonie entre des guides d'ondes optiques, ce système étant utile pour mesurer un ou plusieurs paramètres. Un premier canal de mesure interférométrique est couplé à un premier guide d'ondes, et un second canal de mesure interférométrique est couplé à un second guide d'ondes. Au moins un des canaux comprend un passage de référence pour la lumière, en plus des premier et second guides d'ondes. Un retard optique du passage de référence est associé au passage de référence de la lumière, un premier retard optique est associé à la partie entrée du premier et/ou du second canal de mesure interférométrique, et un second retard optique est associé à une partie sortie de l'un des canaux de mesure interférométrique. Une valeur du premier retard optique et une valeur du second retard optique sont choisies pour supprimer la diaphonie associée à l'un ou l'autre des premier et second canaux de mesure interférométrique sur une longueur prédéterminée du premier guide d'onde. Des signaux correspondant au passage de référence de la lumière et aux premier et second canaux de mesure interférométrique sont traités de façon à mesurer un ou plusieurs paramètres.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)