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1. (WO2011152588) PROBE FOR INSPECTING ELECTRONIC COMPONENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/152588    International Application No.:    PCT/KR2010/004396
Publication Date: 08.12.2011 International Filing Date: 06.07.2010
IPC:
G01R 1/067 (2006.01), G01R 1/073 (2006.01)
Applicants: NTS CO., LTD. [KR/KR]; 170-11, Mijuk-ri, Pungse-myeon, Cheonan Si, Chungcheongnam-Do 330-911 (KR) (For All Designated States Except US).
JEONG, Woo-Yoel [KR/KR]; (KR) (For US Only)
Inventors: JEONG, Woo-Yoel; (KR)
Agent: DAE-A INTERNATIONAL IP & LAW FIRM; 3F., Hanyang Bldg. 830-71, Yeoksam-dong Gangnam-gu Seoul 135-936 (KR)
Priority Data:
10-2010-0052020 01.06.2010 KR
Title (EN) PROBE FOR INSPECTING ELECTRONIC COMPONENT
(FR) SONDE POUR INSPECTER UN COMPOSANT ÉLECTRONIQUE
(KO) 전자부품 검침 프로브
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to a probe for inspecting electronic components, and more particularly, to a probe for inspecting electronic components which connects an electronic component, which is an inspection object, to an inspecting apparatus for inspection in order to inspect defects in the electronic component, which is an inspection object. According to the present invention, a probe for inspecting electronic components includes: a cylindrical cylinder body; a piston body is reciprocated from the inside to the outside of the cylinder body; a spring configured to surround the outer circumstance of the cylinder body and piston body, wherein the spring protrudes the piston body outward by elasticity after a part of the piston body is inserted into the inside of the cylinder body; an inspecting unit extended from the cylinder body, wherein the inspecting unit is connected to an electronic component to be inspected for flow of current; and a connection unit extended from the piston body, wherein the connection unit is connected to an inspecting apparatus to inspect the electronic component.
(FR)La présente invention porte sur une sonde pour inspecter des composants électroniques, et, plus particulièrement, sur une sonde pour inspecter des composants électroniques qui connecte un composant électronique, qui est un objet d'inspection, à un appareil d'inspection pour une inspection afin d'inspecter des défauts dans le composant électronique, qui est un objet d'inspection. Selon la présente invention, une sonde pour inspecter des composants électroniques comprend : un corps de cylindre cylindrique ; un corps de piston, qui effectue un va-et-vient à partir de l'intérieur vers l'extérieur du corps de cylindre ; un ressort configuré de façon à entourer la périphérie externe du corps de cylindre et du corps de piston, le ressort faisant saillir le corps de piston vers l'extérieur par élasticité après qu'une partie du corps de piston a été insérée dans l'intérieur du corps de cylindre ; une unité d'inspection s'étendant à partir du corps de cylindre, l'unité d'inspection étant connectée à un composant électronique à inspecter pour la circulation de courant ; et une unité de connexion s'étendant à partir du corps de piston, l'unité de connexion étant connectée à un appareil d'inspection pour inspecter le composant électronique.
(KO)본 발명은 전자부품 검침 프로브에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 검사대상물 전자부품의 불량을 검사하기 위해, 검사대상물 전자부품과 검사용 검사장치가 접속되도록 연결하는 전자부품 검침 프로브에 관한 것이다. 본 발명에 따른 전자부품 검침 프로브는, 원통 형태의 실린더몸체와, 상기 실린더몸체 내부에서 외부로 왕복운동 하는 피스톤몸체와, 상기 실린더몸체와 피스톤몸체의 외주연을 감싼 채로 형성되되, 상기 피스톤몸체 일부가 상기 실린더몸체 내부에 진입 후 탄성에 의해 외부로 돌출되도록 하는 스프링과, 상기 실린더몸체에서 연장형성되되, 전류의 흐름 검사를 받는 전자부품에 접속하는 검침부와, 상기 피스톤몸체에서 연장형성되되, 상기 전자부품을 검사하는 검사장치에 접속하는 접속부를 포함한다.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Korean (KO)
Filing Language: Korean (KO)